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1.
首先推出了铁磁晶体在弱外场作用下定态磁化参量,用斜率比较法分析了直接影响磁化取向的参量-平均场的取值情况,讨论了弱外场对定态磁化参量的影响机制,结果发现:①在弱外场较小时,系统与无外场时的情况类似,也有两个稳定取向和一个不稳定取向;如弱外场约大于自旋相互作用,则系统只有一个沿外场方向的稳定取向;②在外场比较弱的情况下,平均场可表示为外场的线性关系;③当平均场取下值点时,所有的N+和N-随弱外场变化的两条曲线相交于坐标轴的左边,磁化强度比的零点左移,外施磁场越大,交点越趋近于A点;当平均场取上值点时,所有的N+和N-随弱外场变化的两条曲线相交于坐标轴的右边,磁化强度比的零点右移,外施磁场越大,交点越趋近于A点. 相似文献
2.
利用能量为1.7Mev、注量在1015~2×1016/cm2的电子辐照非晶Gd2Zr2O7粉体、晶态Gd2Zr2O7纳米粉体和晶态Gd2Zr2O7纳米陶瓷,采用XRD测试手段对电子辐照前后的样品进行分析.结果表明,在此电子能量下,非晶Gd2Zr2O7粉体未出现晶化现象;部分晶态Gd2Zr2O7纳米粉体和纳米陶瓷在1016/cm2的注量下,结晶度提高,晶粒长大,辐照引起的退火效应占主导地位;结晶程度较高的Gd2Zr2O7纳米陶瓷在电子辐照下结晶度提高最大,平均晶粒尺寸也有明显提高. 相似文献
3.
利用分子动力学方法模拟计算了单晶铜中纳米孔洞在沿〈111〉晶向冲击加载下增长的早期过程.测量发现不同加载强度下等效孔洞半径随时间近似成线性变化.观测到单孔洞增长的两种位错生长机理:加载强度较低时,只在沿着冲击加载方向的孔洞顶点附近区域有位错的成核和运动;而随着加载强度超过一定阈值,在沿冲击加载和其垂直方向的孔洞顶点区域都观察到位错的成核和运动.在前一种机理作用下,孔洞只沿加载方向增长;在后一种机理作用下,孔洞同时沿加载和垂直于加载方向增长.分析孔洞表面原子的位移历史,发现沿加载及与其垂直方向的孔洞顶点沿径向的速度基本恒定,由此提出了一个孔洞生长模型,可以解释孔洞增长的线性生长规律.
关键词:
纳米孔洞
分子动力学
冲击加载
位错 相似文献
4.
用FT-IR光谱等方法对羟基磷灰石陶瓷中一种氧缺陷进行研究的结果表明,这种缺陷与羟基磷灰石OH离子有氢键作用生成,使陶瓷呈暗红色。该试样可以在N2甚至CO2中退火漂白,又能在O2中重新赋色。经光谱与结构分析推断,这种缺陷是位于羟基磷灰石OH格位上的双氧基团构成。 相似文献
5.
由于X光量热计具有体型吸收、线性响应及抗电磁干扰能力强等优点,可用于对激光等离子体辐射的X光总量测量。介绍了X光量热计的原理和结构,量热计主要由吸收体、热电堆、恒温体和外壳4个部分组成;量热计吸收体接收X光能量后,在瞬时内温度迅速上升,同时又通过热传导或辐射而损失能量。电加热法作为X光量热计的传统标定方法,标定结果不可靠。为此采用经过绝对标定的XRD阵列谱仪(SXS)对X光量热计在神光-Ⅱ装置上进行了在线绝对标定。结果表明:X光量热计性能稳定,其灵敏度为(84.1±3.4) μV/mJ,X光能量测量的相对合成标准不确定度约为31%,可用于X光定量测量。 相似文献
6.
本文通过大量各种掺杂的维纳尔法生长刚玉晶体的红外谱分析研究,利用质子辐照样品和提拉法生长样品与之比较,识别出四个新的O-H基团红外峰,峰位分别在2851厘米~(-1),2919厘米~(-1),2955厘米~(-1)和3164厘米~(-1)。提出H~ 离子与金属离子形成复合体模型,给出了Al~(3 )、Ti~(3 )、V~(3 ),Cr~(3 )、Fe~(3 )、Co~(3 )、Ni~(3 )和阳离子空位与H~ 离子形成[(Me)’_(Al)/H·_(i)]缺陷的红外峰位,很好地解释了有关实验现象。 相似文献
7.
在不同基片温度下,采用电子束蒸发法在Si(100)衬底上制备了碳化硼薄膜,研究了基片温度对薄膜性能的影响。采用X射线光电子能谱仪(XPS)分析了薄膜成分,薄膜的表面形貌用原子力显微镜(AFM)进行表征,采用台阶仪和椭偏测厚仪测量了薄膜厚度和折射率。结果表明基片温度对薄膜成分影响不大;随着基片温度的升高,薄膜表面粗糙度逐渐增大,均方根粗糙度由0.394 nm增至0.504 nm;而沉积速率先增大后减小,在300℃时达到最大值7.47 nm/min;其折射率由2.06渐增至2.41,表明薄膜致密性逐渐提高。 相似文献
8.
用分子动力学方法计算模拟了单晶铜中纳米孔洞(约φ1.3nm)在〈111〉晶向冲击加载过程中的演化及其周围区域发生塑性变形的过程。模拟结果的原子图像如图1所示,其中活塞速度为500m/s,图中所示为4族连续三层穿过孔洞中心的{111}晶面在4000个时间步时(处于拉伸应力状态)的原子排列图像。从面心立方铜晶体中位错成核及运动特点可知,当位错在{111}面上成核和运动后,将产生层错和部分位错结构,我们正是根据此特点来判断在某{111}晶面上是否有位错的成核和运动。从图1可以看到,沿〈111〉晶向冲击加载后, 相似文献
9.
自行设计一套筛网反弹盘三维沉积装置,用于电子束蒸发制备碳化硼微球涂层. 采用电子束蒸发法并结合此装置在直径为1 mm的玻璃小球表面沉积了碳化硼涂层. 研究了筛网振动频率、电子束制备工艺对沉积速率、涂层厚度以及涂层表面粗糙度的影响. 采用X射线照相技术测试涂层的厚度;XPS测试涂层表面成分;AFM表征涂层的表面形貌和均方根粗糙度. 结果表明:涂层主要成分为B4C,表面较为光滑、均匀;当筛网振动频率为0.25 Hz,且电子束蒸发工艺参数定为:真空度P小于3×10-3 Pa,高压U 等于6 kV,束流I 在 1 相似文献
10.
利用γ射线辐照MgAl2O4晶体后,通过热处理及相关测试结果表明,被γ辐射处理的尖晶石可产生大量的F心和V心等缺陷;并且发现γ辐射可明显地影响尖晶石的光谱特性。我们对上述物理现象进行了合理的解释。 相似文献