DC/DC模块中功率器件的寿命预计方法

模拟开关电源DC/DC模块内部电路为开关电源中的功率器件—垂直导电双扩散MOS(VDMOS)和肖特基二极管(SBD)—提供恒定电应力,并对其施加温度应力进行加速寿命试验。采用恒定电应力温度斜坡法(CETRM),对开关电源中功率器件VDMOS和SBD的可靠性进行评价;对其失效机理一致性进行分析,计算其失效激活能;并在失效机理一致的范围内外推正常使用条件下的寿命,为开关电源整体可靠性评价提供依据。     

基于Matlab的序加试验数据的改进处理方法

利用Matlab编程工具,提出温度作为加速应力的序加试验数据的改进处理方法.改进后的方法采用序进温度应力加速样品老化,基于参数退化数据提取失效激活能和寿命外推所需要的参数,无需待样品完全丧失功能即可停止试验,从而提高试验效率.试验数据处理结果表明,新方法得到的样品平均寿命与多年来统计的现场数据一致,验证了该方法的正确性.通过与原方法进行比较,验证了新方法具有简便、高效的特点.