调谐光频梳干涉光谱技术的改进与标定研究

光频梳为高分辨分子光谱测量提供了理想光源。基于两台异步光梳的双光梳光谱技术能够在射频域解析光梳梳齿,具有光谱范围宽、分辨率高、精度高及测量时间短的优势。但是该技术存在系统复杂度高且对环境噪声敏感等问题,限制了其在工业领域的应用。探索并改进了基于单台光梳与连续激光器拍频的光梳干涉光谱技术(FCIS)。通过高频电子器件与高速数据采集系统,单次成谱范围拓展至66 GHz(0.5 nm),使其在10μs内实现对660个纵模频谱的一次性测量。试验对乙炔、氰化氢气体的近红外分子谱线进行了高分辨测量。谱分辨率达50 MHz(0.4 pm),谱线精度0.3 pm。试验结果与HITRAN标准数据一致,证明了系统能够用于快速、高精度的气体光谱测量与定量分析。研究为探索适用于工业气体监测的高分辨光梳光谱技术提供了参考。