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1.
提供了一种简便易行的靶面激光光斑尺寸原位测量的方法。从高斯光束的横向光强分布特性出发,建立了激光烧蚀斑半径与辐照激光能量、光斑尺寸、烧蚀阈值间的关系式,模拟分析发现辐照激光光斑尺寸对烧蚀斑半径随辐照能量变化曲线有较大影响。对于脉宽为2 ms,波长为1064 nm的激光,实验测量了不同能量激光辐照下相纸烧蚀斑半径,并用推导出的关系式拟合测量数据,获得了靶面处光斑尺寸和样品烧蚀阈值。同时,也测量了不同位置处的光斑尺寸和样品烧蚀阈值,对高斯光束束腰位置和样品烧蚀阈值的光斑尺寸效应进行了验证。研究结果表明该技术结果可靠,简单高效。该技术可以为高能激光与固体物质相互作用的基础研究和激光加工等应用领域中实现简单方便地测量靶面光斑尺寸提供帮助。  相似文献   
2.
3.
一种关系数据库查询优化的方法   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文提出一种将关系数据库的SQL查询转换为关系代数的一种方法,该方法使这类查询的SQL语句得到优化。  相似文献   
4.
从PZT体系看无铅压电陶瓷的可能应用   总被引:4,自引:0,他引:4  
总结了主要以(Bi0.5Na0.5)TiO3和NaNbO3为基的无铅压电陶瓷的性能,以Pb(Ti,Zr)TiO3基二元系、三元系压电陶瓷的性能与应用为参考,分析了无铅压电陶瓷可能的器件应用。此外,还对拓宽无铅压电陶瓷应用需要改进的性能提出了建议。  相似文献   
5.
介绍了IDBS的系统结构和协议层次,描述了采用多播数据缓存技术的IDBS系统结构,IDBS为高速英特网接入,多媒体技术应用提供了一种廉价、高效的途径。  相似文献   
6.
7.
报道了用分子束外延的方法制备3英寸HgCdTe薄膜的研究结果,获得的HgCdTe外延材料均匀性良好,在直径70mm圆内,组份标准偏差率为1.2%,对应80K截止波长偏差仅为0.1μm.经过生长条件的改进,表面形貌获得了大幅度改善,缺陷密刃∮00cm-2,缺陷尺寸小于10μm,可以满足大规模HgCdTe焦平面列阵的应用需求.抖  相似文献   
8.
Helium-charged nanocrystalline titanium films have been deposited by HeAr magnetron co-sputtering. The effects of substrate temperature on the helium content and microstructure of the nanocrystalline titanium films have been studied. The results indicate that helium atoms with a high concentration are evenly incorporated in the deposited titanium films. When the substrate temperature increases from 60℃ to 350℃ while the other deposition'parameters are fixed, the helium content decreases gradually from 38.6 at.% to 9.2at.%, which proves that nanocrystalline Ti films have a great helium storage capacity. The 20 angle of the Bragg peak of (002) crystal planes of the He-charged Ti film shifts to a lower angle and that of (100) crystal plane is unchanged as compared with that of the pure Ti film, which indicates that the lattice parameter c increases and a keeps at the primitive value. The grain refining and helium damage result in the diffraction peak broadening.  相似文献   
9.
活动标形法的论述首推苏步青译,佐佐木重夫著《微分几何学》,还有的著作从外微分形式引入活动标形,本文论证取曲面的正交曲率网为参数网时,曲面论的基本公式就是活动标形的微分形式,并用其分析了点啮合齿轮传动误差.  相似文献   
10.
介绍了以Philips公司的8XC552单片机为主控芯片开发的智能配电监测仪硬件电路的组成和系统工程原理,重点介绍了Watchdog技术在智能仪器开发过程中的应用方法,给出了调试中容易出现的问题及解决办法,最后给出了其软件设计原理及简单程序。  相似文献   
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