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1.
针对有价证券防伪技术需求,采用国际新型高分辨率Si-PIN探测器研制了票证防伪检测仪,配置了多功能的检测软件系统。应用实践表明:它具有无损、快速、操作简便的特点,长期稳定性0.45%,能量分辨率为203eV/MnKα,尤其它能够将显性加密和隐性加密有机结合,提供了大众识别性和专业识别性的技术条件,具有广泛实用性和安全性。  相似文献   
2.
对亚共晶Al-Cu粉末压坯,通过不同功率进行激光引燃自蔓延烧结。用OM、SEM、XRD进行微观组织表征,并对烧结合金进行耐磨等性能测试。结果表明:烧结后物相由CuAlO2、Al4Cu9、Al2O3等构成,组织为树枝状晶和胞状晶相间分布。在激光输出功率为950W,烧结后密度最大,为2.8101g/cm3,致密性达到最高点,耐磨性最佳,相对失重为3.66%。  相似文献   
3.
本法用50mg稀土氧化物样品,经四硼酸锂熔融后,粉碎压成薄片,以透空照射法,直接测定15项稀土分量和铀、钍。本法消除基体效应好,制样精度高,测定含量范围宽。  相似文献   
4.
为了制备Ni基非晶涂层,采用激光熔覆方法在45#钢基体上制备Ni60.5Zr19.63Nb18.07Al1.8非晶复合涂层,分析了涂层显微组织及物相,测得了表征力学及耐蚀性能的实验数据。结果表明,涂层中存在大量呈树枝状和胞状的晶体相,由X射线衍射分析可知,涂层中出现了非晶及NiZr2,Ni5Nb,Al2O3和Fe-Ni金属间化合物等物相;当功率为3600W时,涂层中白色非晶相含量最多,且组织最为细小;功率为3000W时,涂层最高硬度在最表面,达到2399.9HK,表面耐磨失重为0.5921mg·mm-2;涂层耐蚀性能在功率为3600W时最佳,致钝电流密度最小为3.05mA/m2,钝化区间最宽为1170mV。由新判据设计的Ni60.5Zr19.63Nb18.07Al1.8成分具有较强非晶形成能力。  相似文献   
5.
采用SI-PIN半导体探测器、241Am激发源和2048通道分析器及自行研制的SI-PIN 2000便携式X荧光分析仪,对钒钛磁铁矿直接粉末样品中Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu等8个主、次元素进行了分析应用研究。文章叙述了所采用的直接粉末样品法的样品盒结构、基体校正的α系数计算方法、重叠干扰校正原则和漂移校正的方法,并且给出了所选择的分析条件和样品制备方法,分析过程简单、结果准确、分析速度快,特别适应矿山、冶金的生产原料分析需要,有良好的应用前景, 与封闭正比计数器X射线荧光分析仪相比,检出限降低了1个数量级。  相似文献   
6.
地质试样中多种痕量元素的X射线荧光光谱分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文采用粉末压片的制样方法直接测定地质试样中26个痕量元素。采用散射内标及影响系数相结合的方法校正基体效应,方法操作简便,结果准确,可用于常规分析和化探测试工作.  相似文献   
7.
铌钽与稀土类单矿物的X—射线荧光光谱分析研究   总被引:6,自引:2,他引:6  
陈永君  刘以建 《分析化学》1991,19(5):560-563
  相似文献   
8.
如何利用先进的计算机技术提高效率,成为工业自动化、测试及测量领域迫切需要解决的问题。文章对虚拟仪器软件LabVIEW作了初步探索,并对其环境进行了简要的介绍,并以此为平台,开发设计了臭氧水处理检测系统,实现了上位机界面、串口通信、信号采集和显示功能。  相似文献   
9.
工业镀层及涂层厚度分析—同位素X射线荧光光谱法   总被引:3,自引:0,他引:3  
采用自行研制的同位素X射线荧光分析仪,测定工业镀层和汽车涂层厚度,分析精度(RSD)分别达20%和36%,该法具有快速、简便、无损等优点。  相似文献   
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