J750到BC3192测试程序转换方法

由于不同测试系统上测试资源的差异,即便是对同一个被测器件的测试程序也不相同。将测试程序从一种测试系统移植到另一个系统上,可以避免测试重复开发,缩短产品开发周期,提高测试效率和灵活性。J750是目前国内装机量较大的进口测试系统,BC3192是国产的新型测试系统,本文介绍了一种测试程序从J750到BC3192转换的方法,用IC卡测试程序做实验,证明该方法是可行的。     

选择合适的测试平台：跨平台的可缩放的体系结构统一了测试策略

由于工程师们面临更大的测试挑战与预算的压缩,测试平台的选择变得更加重要了。具有竞争力的企业必须在技术方面投资,以便以更低的成本、更快地生产更好的产品。     

微处理器（MP）保护功能的一种自测试方法

本文介绍了MP的保护功能及其测试,提出了一种利用微机资源进行故障仿真的自测试方法,该方法简便、规整、直观,不需要借助外部的自动测试设备,并且已经在386、486和586微机上得以实现,效果良好。     

内建自测试技术（BIST）的测试产生和响应压缩方法

本文分析了内建自测试技术(BIST)的测试产生和响应压缩的各种方法和结构,并提出了适用于层次化自测试结构的BIST测试产生和响应压缩方法。     

IEEE 1149.1b边界扫描器件描述语言

1 引言随着可测性技术的发展,越来越多的电子产品都开始采用边界扫描设计,在设计这些支持边界扫描的新产品时,会面临一个问题:如何描述这些边界扫描器件?本文介绍了边界扫描描述语言(BSDL),它是VHSIC硬件描述语言(IEEE Std 1076—1987 VHDL)的一个子语言。遵从两条原则:一是对用户友好;二是对计算机来讲简单、无二义性。     

多芯片模块（MCM）自测试提供真速测试方法

多芯片模块(MCM)测试是一个复杂的问题,因此开发一种正确的测试方法很重要。这需要弄清楚许多系统设计问题:费用、设计的规模、可修复性、CAD工具的可获得性、可测试性设计的层次。人们很容易在这些问题中迷失方向,但自测试提供一种解决方法。因为要把多个IC电路组装在一个小封装中是非常复杂的过程,所以多芯片模块是一种高成本的系统设计。传统的IC全功能测试仅适于比较简单的MCM。因为缺少进入这种小封装的方法,所以用板测试技术来测复杂的MCM也有困难。在很多应用中,自测试能够提供真速测试,这是由于许多MCM都包含有自测试所必须的某些处理单元。     

一种基于自动测试设备的可编程逻辑

本文讨论了具有边界扫描接口的可编程逻辑器件在线编程模型建立的途径,并以BC3192V50高速数模混合测试系统为平台,介绍了ALTERA公司的EPM7512在线编程以及测试过程。本文论述的在线模型建立方法适用于一切通过边界扫描链进行配置的大规模集成电路,为可配置集成电路的测试提供了前提条件。该方法经BC3192集成电路测试系统使用结果表明是有效的。