排序方式: 共有13条查询结果,搜索用时 370 毫秒
1.
2.
3.
材料表面相糙度对其机械性能有很大影响,因此对粗糙度的检测是非常重要的。多年来人们一直努力发展粗糙度的检测技术,相继出现了干涉显微镜,接触式轮廓仪等仪器。这些仪器虽然能以较高的深度分辨率在常压下检测多种不同材料表面,但横向分辨率低。例如:接触式轮廓仪的最大横向分辨率只有100nm,即不能探测小于100nm的微观结构。扫描电镜虽然有较高的横向分辨率,但其深度分辨率较低,并且只能在真空环境中工作。八十年代初发展起来的扫描隧道显微镜(STM)开创了观测材料表面微观结构的新途径。这种仪器即使工作在大气环境中也能同时以很高的横向分辨率(最高~0.2nm)和深度分辨率(最高~0.01nm)给出金属、半导体等材料表面的三维图象。本文介绍了我们自己研制的STM并讨论了用STM 相似文献
4.
5.
6.
SSX—1型实用扫描隧道显微镜 总被引:3,自引:0,他引:3
本文综述了能够直接观察到单个原子的场离子显微镜、透射电子显微镜、扫描隧道显微镜,报告了SSX-1 型实用扫描隧道显微镜主要特点与改进之处,和开展扫描隧道显微学研究所取得一些结果. 相似文献
7.
8.
扫描隧道显微镜(术)STM,使得以原子尺度的分辨率对物质表面进行实空间,实时的观察成为可能。碲化铋为层状晶体,属三角晶系,空间群为D_(3d)~5(R_(3m)~-)。它的每一层内包含五个原子亚层,其顺序是T_e—Bi—T_e—Bi—T_e。Bi原子与其周围的Te原子是八面体配位。两层的T_e原子之间主要是范德瓦尔斯力。解理就在此发生。可望解理面在大气中比较稳定,有可能在非真空条件下看到原子象。我们的样品是n型Bi_2Te_(2.79)Se_(0.21),由半导体所致冷组制备。Bi_2Se_3和Bi_2Te_3结构相同,晶格常数相近。在解理面内 相似文献
9.
10.