连续工作型电子装备战备完好性预计

从战略完好性的实际内涵出发，考虑到装备实际工作中可能处于不同的工作状态，因而其战略完好性模型也应有所有同。对于处于连续工作状态的电子装备，即使工作中发生故障，只要执行下次任务前能修好，就不影响装备的战略完好性。基于此，得出了电子装备处于连续工作状态下的战略完好性预计模型，并在对应的条件下对此模型的得出进行了缜密的推理。     

VXI总线转换系统与被测印制板接口电路的设计

在电路印制板性能检测与故障诊断中,利用VXI总线模块仪器作为激励信号源,由于转换系统与被测单元间的不匹配,产生信号变形,影响了电路印制板性能的测试。本文针对这一问题进行了讨论,提出了改进措施,给出了实验结果。     

数据库技术在某型雷达测试软件中的应用研究

针对雷达装备测试流程复杂、数据管理困难的特点,采用LabWindows/CVI作为软件开发平台,结合数据库技术,设计和阐明了测试数据库的具体结构,并且给出了数据库操作的方法。实践证明,数据库技术的应用使得该测试软件具有较强的移植性,在更新数据库的内容后,可直接移植到其他测试系统中,具有较大的实践价值。     

VXI总线转系统与被测印制板接口电路的设计

在电路印制板性能检测与故障诊断中，利用ＶＸＩ总线模块仪器作为激励信号源，由于转换系统与被测单元间的不匹配，产生信号变形，影响了电路印制板性能的测试。本文针对这一问题进行了讨论，提出了改进措施，给出了实验结果。     

基于加速性能退化试验的板级可靠性评估

传统的可靠性评估方法一般基于失效寿命数据,而目前对于高可靠长寿命的电子产品,很难通过加速试验获得其失效寿命时间。为解决这一矛盾,将性能退化理论引入到传统可靠性评估中,提出了基于失效数据及加速性能退化的可靠性评估的新方法。应用某型雷达24V/2A稳压电源板加速性能退化试验进行验证,结果表明该方法用于高可靠长寿命电子装备的可靠性评估是正确有效的。     

基于板级电路加速退化数据的可靠性分析

基于板级电路加速性能退化数据来研究电子产品可靠性评估问题。对电源整板进行80℃、100℃、120℃下加速退化试验．监测到输出电压随温度变化的退化过程。由试验数据对加速性予以定量验证,并基于Weibull分布采用最小二乘法进行可靠性统计推断。     

基于Pspice的电路仿真故障注入的方法研究

为克服在测试性验证与评估过程中手动进行故障注入时费时的问题,对Pspice电路仿真中的故障注入的方法进行研究,提出了一种仿真电路故障注入自动化的方法,使用LL(k)语法分析技术开发了Pspice解析器,用Hook技术对Pspice进行监控,实现了电路的自动故障注入和仿真。经验证提出的解决方法,有助于提高在测试性验证与评估过程中故障注入的效率。     

SVDD参数优化的有限穷举—局部遗传算法及故障检测应用

针对支持向量数据描述(SVDD)训练过程中的参数优化问题,提出了一种有限穷举—局部遗传算法.首先,在分别分析参数C和σ对SVDD分类性能不同影响的基础上,得到参数σ是影响分类性能主因的结论.然后针对σ的优化问题,通过穷举有限个整数解并比较其分类性能来确定近似最优解,在近似最优解的领域内用遗传算法进行局部搜索,最终得到精确的优化参数.仿真实验及电路故障检测应用结果表明:算法有效避免了参数搜索的盲目性,能以更短的时耗逼近最优解.     

三进制编码实现硬件演化方法研究

针对硬件演化在演化算法中采用定长染色体编码结构位串,其编码过长会造成演化速度慢、成本高等缺点,提出基于三进制编码实现演化算法的方法.利用 Matlab 矩阵运算的优势,采用遗传算法实现演化算法,找到最优电路编码矩阵,得到了最佳电路函数表达式.实例反映了三进制编码比定长染色体编码规模小,遗传算法中采用多点定向变异具有收敛速度快等优点,证明了三进制编码演化算法的有效性.