基于DDS+ADC的综合演示平台的研制

介绍了一种基于DDS+ADC的综合演示平台.该平台包括用于信号产生的DDS板卡、用于信号采集的ADC板卡、用于缓存和传输的数据板卡以及用于通讯和控制的USB主控板等.综合演示平台配套软件采用Labview开发,拥有集通讯、计算、显示为一体的人机界面.DDS+ADC联合工作的性能为:SNR=70.8 dB,SFDR=84.9 dB.该平台具有精度高、完全脱离仪器、携带方便、界面友好、采用模块化设计、易于扩展等特点.     

高速数字电路相位噪声测试研究

对高速数字电路相位噪声测试技术进行了探索.利用直接频谱仪法、鉴相器法、鉴频器法等相位噪声测试方法,通过阻抗匹配等合理的测试设计,开发出测试系统,对高速数字电路相位噪声进行了测试研究,获得了准确的测试数据,有效地表征了电路实际性能.     

混合信号测试系统S参数测量的校准

混合信号测试系统一般用于射频或微波电路S参数的测量,但由于厂家无完整的校准方案和软件支持,提供的校准方案只能校准到特定的测量端面,实际测试时端口需要延伸;并且,系统将引入较大的失配和损耗误差,测量结果不能反映器件的真实性能指标,高精度测量受限。以业界主流的大型射频混合信号测试系统LTX-MX为例,分析S参数测量时的系统误差模型和校准方法,为测试工程师使用大型测试系统准确测量S参数提供了一种校准方案,并为后续的高精度测量提供了可行性。