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1
1.
65nm下低功耗稳定性高的寄存器堆的设计
张星星
李毅
熊保玉
韩军
张跃军
董方圆
张章
虞志益
程旭
曾晓洋
《半导体学报》
2012,33(3):035010-5
本文详细分析了低功耗稳定性高的32x32, 4读2写的寄存器堆,提出了采用MUX和锁存器的输出结构。该输出结构没有任何动态或模拟电路,提高了鲁棒性的同时降低了功耗。简化的时序不仅降低了功耗,而且增强了鲁棒性。连续读“0”或“1”的时候,这种结构能够消耗更小的功耗。该寄存器堆已在65nm下流片,芯片测试结果显示,它1.2V电源电压下,工作频率为0.8GHZ,消耗功耗7.2mW。
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