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S—域行为描述的模拟集成电路综合方法 总被引:1,自引:1,他引:0
本文提出了一种通用的、从S-域输函数入手进行模拟集成电路结构级综合的方法,并详细地讨论了提高电路性能和合格率的电路技巧。 相似文献
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集成电路合格率优化方法的研究 总被引:1,自引:1,他引:0
本文引入了一个概率空间来描述集成电路合格率优化问题,并将合格率表示为可行域的概率测度。所提出的变权重MonteCarlo法适合于合格率不太高的场合,而改进后的SA算法则适合于合格率比较高的场合。这些方法已应用于YOSIC系统中,并取得了满意的效果。 相似文献
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