用SEM、AES、EDS对电子发射材料(钪酸盐阴极)及其所用的多孔钨体的分析与研究

本文简要报导用Philips—SEM505、日本ANELAL公司AES—430S以及美EDAX—9100对钪酸盐阴极及多孔钨体的形貌结构、发射表面和体内的成分组成等进行实验研究的初步结果。实验表明:钨粉种类、成形方法、精加工方式等都是对多孔钨体和阴极表面性能有直接影响的因素。用俄歇谱仪对阴极发射面做纵向剖面分析可以看出,决定阴极性能的发射表面的“浅层”是发射活性物质最富集的区域。随着深度的增加,活性物质逐渐减少。深度超过约420A以后,各种成分便呈相对稳定的分布。因此,阴极性能的优劣主要取决于极薄一层发射表面的组成和性质。对该层的结构、性能等做充分的研究,对了解阴极的发射机理、改善并掌握稳定的阴极制备工艺都是十分重要的。     

行波管质量与可靠性信息管理系统的设计

本文从应用角度简要介绍了《行波管质量与可靠性信息管理系统》的研制背景，数据库的数据来源，数据结构，系统构成及功能特点。     

(Sm∪K1)+Dn的交叉数

Sm∪K1是由星图Sm与孤立点K1构成的不连通图.本文首先确定了当m=1,2,3时,(Sm∪K1)+Dn的交叉数,再在猜想cr(K6,n+1\e)=Z(6,n+1)-2{n/2」成立时,得到了(S4∪K1)+Dn的交叉数.     

微波天线开关管失效率现场数据验证的探讨

本文扼要论述在雷达机中常用微波天线开关管的简要工作原理、类型、雷达机对器件性能的技术要求，以现场数据对失效率模型预计手册修订版前后的对比验证，得出手册修订的新版，预计效果达到工程整机要求的结论。     

六阶图Q与星图S_n的积图交叉数

目前关于积图的交叉数的研究已经推广到六阶图与星图的积图.研究得到了一个特殊六阶图Q与n个孤立点nK_1的联图交叉数,然后通过收缩的方法,得到了Q与星图S_n的积图交叉数.     

行波管可靠性失效率模型的研究

本文以行波管现场使用数据和失效模式为基础，根据可靠性理论对真空电子器件失效率或平均寿命考核可靠性指标的方法，参照美国军标ＭＩＬ－ＨＤＢＫ－２１７Ｅ，Ｆ，结合我国具体实际，对行波管失效率的数学模型，采用数理统计回归分析后，定一得出我国行波管可靠性的水平，并用现场数据对失效模型进行验证，提出我国行波管总体可靠性水平与美国之间的差距。     

联图$K_5+P_n$的交叉数

A join graph denoted by G + H,is illustrated by connecting each vertex of graph G to each vertex of graph H.In this paper,we prove the crossing number of join product of K_5 + P_n is Z(5,n) + 2 n + [n/2] + 4 for n ≥ 2.     

行波管的可靠性现状及其差距

行波管广泛地应用于雷达、电子对抗和通讯等国防重点工程,被誉为武器装备的“心脏”,本文从行波管现场应用情况分析出发,论述我国行波管可靠性水平、质量状况、“八五”期间研制情况及存在问题等,进一步指出宽带大功率行波管国内外的差距,最后提出行波管可靠性工作的建议和相应措施。     

Wm∨Pn的交叉数

在Klesc M给出的联图W_3 V P_n的交叉数的基础上,继续对联图Wm V Pn（m=4,5）的交叉数cr进行了研究,得到了cr（W3 V Pn）=Z（5,n）＋n＋「n/2＋1」以及cr（W5 V Pn）=Z（6,n）＋n＋3[n/2」＋1,n≥2.