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1.
运用数字化标尺技术,研制GDG-2型光电等厚干涉实验仪,实现牛顿环直径的直接测量,并将测量值由LED数码管显示.该仪器简化了实验操作,提高了实验效率,提高了测量精确度. 相似文献
2.
对半导体硅及其器件芯片中的诱生热缺陷,用XCD-H红外电视显微镜进行了无损检测.通过显微拍照和磁带录相,获得了电活性位错与堆垛层错微区金属杂质富集以及氧沉淀环状活性团等清晰的红外透视图象.结果表明,该种红外透视的系统能够提供相当重要的信息,因而将对器件工艺的质量分析,进一步提高芯片的内在质量产生有益的影响. 相似文献
3.
目前,大部分高校做牛顿环实验时,一般采用的都是扩展光源钠光灯.因扩展光源可看成由无穷多点光源组成,可以增加等厚干涉条纹的亮度,所以教材上都指出用扩展光源做牛顿环实验有利无害,但很少强调扩展光源放置的位置和形状对等厚干涉条纹的影响.我们在牛顿环实验中进行探究式教学时发现,扩展光源放置的位置可以影响干涉条纹的形状, 相似文献
4.
应用CCD摄像和数字电子技术,研制了新型光电等厚干涉实验仪,不仅能将等厚干涉图像放大显示在监视器屏幕上,而且还可对图像进行数字化读数测量介绍了该仪器的结构和测量原理,以及使用该仪器做“用牛顿环法测透镜的曲率半径”实验的方法,并评定了测量结果.实验结果表明,该仪器不仅干涉条纹图像显示清晰,便于演示实验,而且操作简单,测量精度较高. 相似文献
5.
结合CCD摄像技术研究了在监视器屏幕上数字化测量方法.基于这一方法研制了GDZ-1型光电综合实验仪。实现了待测物体在监视器屏幕上的显示和直接测量.本文阐述测量原理,并结合应用实例讨论了系统误差. 相似文献
6.
本叙述了数字式电视显微测微仪的测量原理,从理论上分析了该仪器的系统误差,从而对该仪器的实践应用给予理论支持。 相似文献
7.
用XCD-H红外电视测微显微镜,通过无损检测来评价半导体材料与器件工艺的质量。本文仅对材料的完整性与芯片制造工艺导致杂质沉淀的问题进行讨论。 相似文献
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