基于JC-5600ATE的单/双电源运算放大器测试方法

集成运算放大器具有成本低、功能多等优点,可广泛用于自动控制系统、测量仪表等其他电子设备中。近年来集成运放的指标在不断提高,性能也在不断提升,伴随着运算放大器的发展,对用来考核运算放大器指标的测试技术也提出了相应的要求,对测试系统(Automatic Testing Equipment,以下简称ATE)的性能要求也相应变高。阐述了单、双电源集成运算放大器在JC-5600ATE上的测试方法,并分析了两者的测试差异。     

IC长贮存寿命评价方法

高可靠长寿命产品在军事、航空航天、电子工业、通信等领域应用越来越广泛,如何保障其可靠性与预测其寿命是值得深入研究的重要问题。越来越多的单位,特别是航空航天系统的单位,对其选用的产品提出了具有32年贮存寿命要求的高可靠性指标。长寿命及超长寿命的电子元器件的贮存寿命评价是以加速试验为评价方法的。建立准确的失效机理及模型是评价正确与否的关键。文章通过收集大量高温贮存及常温贮存的实测数据,建立失效模型,推算出应力条件及相应的加速因子。文中实践证明,通过模型仿真出的贮存寿命具有高的可信度。     

基于缺陷检测的多芯片塑封光耦器件开封方法

塑封光耦器件主要用于电源隔离、信号转换、脉冲放大等领域.基于缺陷检测的需求,保持芯片、键合丝、基板等部位的原始状态是开封技术的重要指标.针对多芯片塑封光耦器件缺陷检测难的问题,为了避免开封对关键缺陷点的损伤,提出了一种多芯片塑封光耦器件的开封方法.利用X射线对器件进行内部结构分析和缺陷定位,通过机械预处理、激光烧蚀、激...     

基于ATE的FPGA配置文件生成方法

FPGA是在PAL、GAL、EPLD、CPLD等可编程器件的基础上进一步发展的产物。它是作为ASIC领域中的一种半定制电路而出现的,既解决了定制电路的不足,又克服了原有可编程器件门电路有限的缺点。用Ultra Flex测试系统(ATE)测试FPGA的方法进行阐述,分析了不同电压模式的配置文件产生方法的差异。     

SRAM静态低功耗设计

在标准的Fabless CMOS工艺线上,由于没有对静态存储器生产进行过专门的工艺优化,在有大规模SRAM嵌入设计的ASIC与SoC电路中,静态电流较大。文章讨论了静态存储器单元静态漏电模式,采用了国内某标准CMOS工艺线提供的0.25μm SPICE模型,使用HSPICE软件对六管静态存储器单元的静态漏电进行了模拟,介绍了一种高可靠、基于0．25μm标准CMOS工艺的低功耗静态存储器设计的解决方案,适用于要求低待机功耗的标准静态存储器、嵌入式静态存储器电路设计。     

LVDS（低压差分信号）测试技术研究

LVDS信号是一种高速串行总线标准,主要应用在视频信号传输等领域。LVDS器件应用越来越广泛,其测试技术面临越多挑战。文章首先介绍了LVDS信号的特点,从信号完整性方面介绍了LVDS在设计时需要注意的问题,并讨论了LVDS器件测试中涉及到的抖动、眼图、误码率等主要问题。同时介绍了如何将大规模自动测试系统（UltraFL...     

一种高效测试交流参数的方法研究

随着科学技术的快速发展,集成电路都朝着高速、高精度方向发展,对保障电路质量的电路测试的速度和精度也提出了新的要求,尤其在交流参数测试方面要求也越来越高。为了实现比传统的测试方式更加快速准确的交流参数测试,利用V93000集成电路测试系统,通过对Smart Scale卡上pin脚通道的时间测试单元(TMU)进行编程控制,即可达到目标。     

基于测试系统的FPGA测试方法研究

FPGA已经成为当今数字化系统硬件设计的核心,全球90%以上的嵌入式系统设计工程师正在使用FPGA进行着各种各样的设计。FPGA的快速发展,为测试厂商带来了新的机遇和挑战,针对FPGA的各种创新测试技术和解决方案不断问世。文章介绍FPGA配置方法,着重介绍了利用测试系统(ATE)直接配置和基于CPLD+FLASH的FPGA配置方法,介绍了FPGA配置模式选择和配置代码生成方法,并以Virtex-II FPGA为例,详细讲述了FPGA配置与测试过程。     

Testing House管理浅析

Testing house只要加强管理,在企业的发展过程中,将起到相当重要的作用。     

JS32044码声转换电路测试技术研究

本文叙述了JS32044码声转换电路的主要功能，并对其基本电路的测试方法进行了简要介绍。