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LSC87中嵌入式ROM内建自测试实现 总被引:2,自引:1,他引:1
LSC87芯片是与Intel8086配套使用的数值协处理器,体系结构复杂,有较大容量的嵌入式ROM存储器,考虑到与Intel8087的兼容性和管脚的限制,必须选择合适的可测性设计来提高芯片的可测性。文章研究了LSC87芯片中嵌入式ROM存储器电路的设计实现,然后提出了芯片中嵌入式ROM电路的内建自测试,着重介绍了内建自测试的设计与实现,并分析了采用内建自测试的误判概率,研究结果表明,文章进行的嵌入式ROM内建自测试仅仅增加了很少的芯片面积开销,获得了满意的故障覆盖率,大大提高了整个芯片的可测性。 相似文献
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