Coupled THz Waveguide Utilizing Surface Plasmon Polaritons on Thin Dielectric Slab Sandwiched between Two Corrugated Metallic Claddings

We present a comprehensive experimental study of terahertz （THz） wave propagation utilizing surface plasmon polaritons （SPPs） on the interfaces of a thin dielectric core layer sandwiched between two corrugated metallic claddings. THz wave impinges on the structured surfaces at normal incidence. Long-lasting oscillation propagation features are observed in the temporal waveform after traveling through the periodic arrays. The enhanced THz transmission can be achieved due to the coupling between incident waves to SPPs at the bottom and top interfaces. The finite element method is used to simulate the field distribution and the transmission mode in the waveguide. The hybrid waveguide with low absorption has great potential applications in THz integrated devices.     

溶胶-凝胶SiO2薄膜氨热两步后处理

 以正硅酸乙酯为前驱体,氨水作催化剂,采用溶胶-凝胶法提拉镀制SiO₂双面膜,对薄膜进行氨处理和热处理。采用椭偏仪、分光光度计、红外光谱、扫描探针显微镜、静滴接触角测量仪表征薄膜的特性。研究表明：经氨热两步后处理,膜厚持续减小,折射率经氨处理先增大了0.236,再经热处理又减小了0.202,膜层透光性变好,透过率峰值持续向短波方向移动;经两步后处理的膜面平整度明显变好,与水的接触角先增大到58.92°后减小到38.07°。     

ZrO2/SiO2双层膜膜间渗透行为初步研究

用溶胶-凝胶技术,采用提拉镀膜法在K9玻璃基片上镀制了ZrO2/SiO2双层膜和SiO2/ZrO2双层膜,研究了这两种膜层之间的渗透问题。用X射线光电子能谱仪(XPS)测量了薄膜的成分随深度方向的变化,用反射式椭偏仪对X射线光电子能谱仪测得的实验结果进行模拟与验证。结果表明,用X射线光电子能谱仪测得的实验结果建立的椭偏模型,模拟出来的椭偏曲线和用椭偏仪测量出来的椭偏曲线十分吻合;对于ZrO2/SiO2双层薄膜,膜层间的渗透情况不是很严重,在薄膜界面处薄膜的成分比变化非常明显,到达一定深度后薄膜的成分不再随深度的变化而变化;SiO2/ZrO2双层膜膜层界面间的渗透十分严重,渗透层的深度比较大,底层几乎发生了完全渗透。     

提高钽电容器储存稳定性的机理分析及试验研究

钽电容器的存储稳定性是电子整机与装配非常关心的问题,也是当前研究的热点之一。通过总结分析钽电容器应用中出现频次较高的几个问题,结合模压封装材料的吸潮特性和潮气吸收及扩散理论,重点解释了存在潮气情况下钽电容器在温冲、回流焊等操作中的失效机理。尝试用一种新的钽电容器包封材料和包封方法提高其耐潮能力,并通过各种严酷的试验和85℃-85%RH-2000 h寿命试验检验。结果表明该材料和工艺对提高钽电容器的存储稳定性具有非常大的作用。     

高压超大容量有机电解质片式钽电容器高温稳定性试验

高压超大容量有机固体电解质片式钽电容器是适应新一代电子信息技术而开发的一种新型电容器，但行业内规定高低温(-55℃ ，125℃ )容量变化±30％，严重限制了其在一些特殊领域的应用，通过对电介质化成工艺的调整，以及添加电介质和聚合物膜界面的后处理等方法有效改善了高温容量的稳定性，并通过一系列可靠性试验验证，电容器的容量变化率ΔＣ/Ｃ不超过20％，漏电流的稳定性也得到显著改善，从而满足了此类产品在特殊环境的使用要求。     

First-principles study of disordering tendencies in Gd2B2O7（B=Ti,Sn,Zr） compounds

This paper performs the density functional theory calculations to obtain some factors influencing the response of pyrochlores Gd2B2O7(B = Ti,Sn,Zr) to ion irradiation-induced amorphization.The 48f oxygen position parameter x,cohesive energy,bond type and defect-formation energy are discussed.The results show that parameter x can be used to indicate the disordering tendencies within a given pyrochlore family.Bond type,cohesive energy and defect-formation energies can be used to explain some experimental observations,but they are not determined exclusively by radiation "resistance" for a different pyrochlore family.     

熔石英亚表面缺陷附近光强分布的数值模拟

 熔石英亚表面缺陷对光场的调制是导致激光辐照场破坏的主要因素。采用有限元方法对熔石英亚表面缺陷（平面和锥形划痕）周围的光强分布进行了数值模拟。结果表明：划痕形状、几何尺寸、方位角、光的入射角等是影响划痕周围光强分布的主要因素;前表面划痕对光强的增强效果比后表面弱;在理想形状的划痕截面和表面同时发生内全反射时,平面划痕周围的光强增强效果明显。锥形划痕周围的光强分布为正确解释交叉划痕的夹角平分线附近的损伤提供了理论依据。     

有机电解质片式钽电容器稳定性的提高

新一代信息技术的发展不仅要求有机固体电解质片式钽电容器的等效串联电阻(ESR)小,更需要在严酷环境中使用时电容量、ESR和漏电流保持稳定。影响钽电容器稳定性的影响因素很多,其中界面稳定性是关键因素之一。为此,在此类电容器生产中引入一种新的界面预处理方法,即在介质氧化膜表面涂敷硅烷偶联剂预涂层,抑制介质氧化膜-聚合物界面的劣化。经过高低温、浪涌电压和125℃-2000 h寿命测试,静电容量、漏电流和ESR的稳定性有明显改善。试验结果表明,该界面预处理技术是制造高稳定性高压有机钽电容器非常有效的方法。     

溶胶-凝胶SiO2酸性膜与碱性膜的激光损伤行为

 采用溶胶-凝胶技术分别在K9基片上镀制了光学厚度相近的单层SiO₂酸性膜和碱性膜。测试了两类薄膜的激光损伤阈值;分别采用透射式光热透镜技术、椭偏仪、原子力显微镜、扫描电镜和光学显微镜研究了两类薄膜的热吸收、孔隙率、微观表面形貌、激光辐照前薄膜的杂质和缺陷状况以及激光辐照后薄膜的损伤形貌。实验结果表明：相对于碱性膜,酸性膜有更大的热吸收和更小的孔隙率,因此其激光损伤阈值较小;两类薄膜不同的损伤形貌与薄膜的热吸收系数与微观结构有关。     

超薄型钽浆阳极电容器的制备及性能分析

高体积效率、超薄型化是实现钽电容器进一步小型化的有效技术途径，基于丝网印刷技术，提出了一种新的钽阳极制作方法，即首先将高比容钽粉制成浆料，然后印刷在钽箔上进行高温烧结作为电容器的阳极片，接着利用传统的阳极氧化方法生成五氧化二钽(Ta2O5)作为电容器的电介质，并通过多次浸渍硝酸锰、高温热分解循环被覆二氧化锰(MnO2)作为阴极材料，该方法制备的电容器其钽芯厚度最薄可以达到 0.2ｍｍ，体积效率相比传统技术提高了30％，而且经过 125℃、2000ｈ寿命测试，试 验样品各项电性能参数稳定，基于丝网印刷工艺技术制造钽浆阳极的方法将加速钽电容器小型化和薄型化的发展。