首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   14篇
  免费   4篇
化学   2篇
晶体学   1篇
物理学   3篇
无线电   12篇
  2007年   1篇
  2001年   1篇
  2000年   5篇
  1999年   2篇
  1998年   2篇
  1997年   2篇
  1995年   2篇
  1992年   2篇
  1980年   1篇
排序方式: 共有18条查询结果,搜索用时 265 毫秒
1.
本文分析和讨论了碲镉汞材料退火的微观机制和退火条件,根据分析的结果对加速旋转坩埚技术布里奇曼法生长的长波碲镉汞材料进行了低温退火实验,取得了满意的结果。对于0.7mm厚的样品,190~220℃下汞饱和等温退火50~60天可获得电学性能优良的n型材料。77K下载流子浓度n<5×1014cm-3,载流子迁移率μ>1×105cm2/V·S,少子寿命τ>1μs。  相似文献   
2.
本文报导了将加速旋转坩埚技术布里奇曼法应用于碲镉汞单晶的生长工艺中,获得了性能优良的原生n型晶体。对于x值力0.19~0.22的φ12晶片,组份均匀性为±0.0025,77K下载流子浓度小于4×10~(14)cm~(-3),迁移率高达2.8×10~5cm~2/V·s  相似文献   
3.
相平衡形成母液法生长碲镉汞液相外延膜   总被引:3,自引:0,他引:3  
根据相律探索出相平衡形成母液法生长碲镉汞液相外延膜新的工艺方法。该方法工艺简单,外延膜组份易于调整和控制。利用此种方法,成功地生长出x = 0-21 ~0-23,表面光亮,结构完整的碲镉汞液相外延膜。  相似文献   
4.
5.
肉桂嗪的学名为1-二苯甲基-4-肉桂基哌嗪(Ⅰ),是一种具有抗组氨作用的药物,并略有一些镇静作用。在六十年代初证实了它有改善脑血液循环的用途后,立刻引起了许多化学工作者和药物制造者的兴趣。在不长的时间内,先后出现了许多有关制备它的专利,这些报道中提出的方法大体上可分为三类:(1)以二苯甲基哌嗪(Ⅱ)为起始原料,如(1)和(2)  相似文献   
6.
Hg1-xCdxTe在高压下的电学性质、状态方程与相变   总被引:2,自引:2,他引:0       下载免费PDF全文
在金刚石压砧装置上,采用电阻和电容测量方法研究了Hg1-xCdxTe(x=0.19,0.22)在室温下、20GPa内的电阻、电容与压力的关系。实验结果表明:它们分别在0.7~1.8GPa与8.6GPa左右以及在1.6GPa左右与8.3GPa左右发生了两次电子结构相变;分别在2GPa左右与8.6GPa以上以及在1.6GPa左右与8.3GPa以上发生了两次晶体结构相变。同时,还在活塞-圆筒式p-V关系  相似文献   
7.
外延衬底用CdZnTe晶体进展   总被引:1,自引:0,他引:1  
文中简要介绍了CdZnTe晶体用作HgCdTe外延衬底的优点和国内外研究的现状,概括了CdZnTe晶体的生长方法及其特状,概括了CdZnTe晶体的生长方法及其特点,总结了影响CdZnTe晶体生长和晶体质量的因素,提出CdZnTe晶体生长中存在的问题和改善晶体质量的措施。  相似文献   
8.
介绍了一种新的碲镉汞晶体生长方法(即双相复合生长法),阐述了该方法的生长机理和生长过程;分析了生长过程中影响晶体生长的因素;总结了该方法晶体生长的特点,并提出了晶体生长过程中存在的问题和改善措施;通过采取低温生长、低温梯度下慢速生长、生长后慢速冷却和适当的晶片退火等措施,获得了大直径(Ф40mm)、大单晶面积(4~10cm2)、径向组分均匀(x≤±0.003)、光电性能良好(77K:ni≤5×1014cm-3、μi≥1.5×10scm2/V.s、≥2μs;300K:0.9mm厚的晶片透过率T≥15%)的碲镉汞晶体。  相似文献   
9.
介绍了一种新的碲镉汞晶体生长方法(即双相复合生长法)阐述了该方法的生长机理和生长过程,分析了生长过程了影响晶体生长的因素,总结了该方法晶体生长的特点,并提出了晶体生长过程中存在的问题和改善措施;通过采取低温生长,低温梯度下慢速生长,生长后慢速冷却和适当的晶片退火等措施,获得了大直径(Φ40mm)大单晶面积(4-10cm^2)径向组分均匀(△x≤±0.003),光电性能良好(77K,ni≤5×10^  相似文献   
10.
本文利用碲镉汞膺二元固液T-X相图对碲镉汞晶体生长方法进行了分类研究;分析了影响碲镉汞晶体组分及其均匀性的因素,提出了存在的问题和改善的措施;认为在特定组分的固相线温度(相图中的B点)生长碲镉汞晶体是一种比较有效的方法,并报道了采用双相复合维持液相成份生长大直径40mm碲镉汞晶体组分控制研究的结果(在S≈12cm2的晶片面积上,x=0.218±0.003).  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号