太赫兹波在雾中的多重散射特性

太赫兹(THz)波作为微波和毫米波的延伸,它所提供的通信带宽和容量远大于毫米波。在随机介质中传播时,不但会发生时域和空域的形变,介质中的粒子还会对入射波发生散射,这些都会使得脉冲信号发生衰减。根据Mie理论与随机离散分布粒子的波传播与散射理论,计算了THz波信号入射下雾滴粒子的消光系数。结合雾滴粒子谱分布,得到了雾媒质的平均体系散射特性,采用蒙特卡罗法得到了平流雾对THz信号的多重散射特性,计算了THz波段信号对平流雾的透过率与反射率,分析了THz波段信号的前向、后向散射特性随散射角的分布。结果表明,低能见度大气环境中,雾对THz波产生的吸收和衰减不容忽视。相关研究结果对THz在大气传输、通信等方面的应用具有重要意义。     

1微米电路的纵向剖析──扫描电镜在IC中的应用

集成电路复杂性日益提高，条宽控制越来越细，意味着要采用比光学显微镜更高分辨率的手段来观察与芯片功能休戚相关的微电路形貌。随着1．OPm及亚微米工艺的研究与应用，人们对检测工艺提出了越来越高的要求。在诸如侧壁、角度、形貌等方面，原有的平面检测工艺已经不能满足要求，只有借助扫描电镜，对样品进行剖面分析，才能满足1微米工艺检测的要求。因此，随着工艺的发展，扫描电镜在IC中的作迅也就日益突出，成为不可缺少的重要检测手段。一、扫描电镜的工作原理扫描电子显微镜简称扫描电镜（ScanningElectronMicroscope，SEM）。扫…     

多晶硅吸除及其在LSI中的应用

一、引言 原始硅中的金属杂质,以及在器件工艺中由试剂、容器、炉管等所引入的杂质,它们在器件工艺的高温过程中极易发生聚集,尤其是在表面富集,它将使P-N结软化及器件失效。 为了减少硅中金属杂质的危害,提高器件制造成品率和可靠性,各种吸除技术被广泛采用:如背面打毛损伤用以消除外延灰雾,提高二极管反向特性合格率;背面扩浓磷、背面淀积多晶硅以减小动态RAM的LSI器件漏电流和增大电容存贮时间;背面离子注入损伤以及淀积氮化硅等等。     

基于改进CenterNet的水下目标检测算法

针对常规目标检测器检测水下目标时存在特征提取困难、目标漏检等问题,提出一种改进CenterNet的水下目标检测算法。首先,使用高分辨率人体姿态估计网络HRNet代替CenterNet模型中的Hourglass-104骨干网络,降低模型参数量,提升网络推理速度;其次,引入瓶颈注意力模块,在空间维度及通道维度进行特征增强,使网络关注重要目标特征信息,提高检测精度;最后,构建特征融合模块,融合网络内部丰富的语义信息和空间位置信息,并利用感受野模块增强融合后的特征,提高网络多尺度目标检测能力。在URPU水下目标检测数据集上进行实验,与CenterNet相比,所提算法的检测精度可达77.4%,提升1.5个百分点,检测速度为7 frame/s,提升35.6%,参数量为30.4 MB,压缩84.1%,同时与其他主流目标检测算法相比具有更高的检测精度,在水下目标检测任务上更具优势。     

皖北卧龙湖煤矿岩-煤蚀变带黄铁矿拉曼光谱特征及意义

选取皖北卧龙湖煤矿岩浆侵入区,研究其岩-煤蚀变带内不同形态和期次FeS_2的拉曼光谱特征。结果显示,依据峰型组合(M)、拉曼位移(Δν)和散射强度(I)的不同,各样品数据可以划分为Ⅰ型、Ⅱ型和Ⅲ型3类。Ⅰ型样品发育5个较强的散射峰,E_g值(1.16~1.59×10~3)和A_g值(2.33~2.53×10~3)均较高,T_g值(0.20~0.27×10~3)一般较低。与之不同,Ⅱ型样品拉曼谱线上仅可见到前3个散射峰,不发育后2个散射峰;其E_g值、A_g值及T_g值均与Ⅰ型相似。Ⅲ型样品与前两类均不同,仅发育327.6~328.8和389.0~390.1cm~(-1)两个较强的散射峰,样品Eg值(0.94~1.14×10~3)较高,Ag值(0.27~0.33×10~3)较低,Tg值低于检测限。分析表明,Ⅰ型样品的前三个散射峰分别为与黄铁矿的Fe-[S_2]~(2-)变形振动、伸缩振动和S—S伸缩振动相关;后两个散射峰分别与石墨微晶振动和石墨晶面内C—C伸缩振动对应,展现出黄铁矿特征和天然焦的共同特征,推测为遭受天然焦混染的黄铁矿混晶。Ⅱ型样品发育前3个散射峰,指示其为典型的黄铁矿晶体;而Ⅲ型样品的谱峰特征与白铁矿相似,推测其有可能为黄铁矿的低温白铁矿变晶。进一步分析还表明,Ⅰ型和Ⅱ型拉曼散射强度相近,Ⅲ型样品较前二者明显偏低,暗示Ⅰ型和Ⅱ型样品形成压力相近,而Ⅲ型样品形成压力较低;三者Ag峰分别依次较前者向高频偏移4.4~6.7和4.5~8.4cm~(-1),这指示Ⅰ型、Ⅱ型和Ⅲ型样品的形成温度依次显著降低。依据上述光谱证据认为,淮北卧龙湖煤矿内蚀变煤和过渡带内黄铁矿均为中高温产物,应为岩-煤蚀变过程中的产物;而侵入岩内发育黄铁矿的低温白铁矿变体很可能为岩体固结后的次生产物。     

太赫兹波段信号在雾中的传输特性研究

太赫兹（THz）波提供的通信带宽和容量远大于毫米波。与可见光和红外光相比,THz脉冲的波长较长,在随机介质中传播时,不但会发生时域和空域的形变,介质中的粒子还会对入射波发生散射,这些都会使得脉冲信号发生衰减。根据Mie理论与随机离散分布粒子的波传播与散射理论,计算了THz波信号入射下雾滴粒子的消光系数,分析了不同THz波波长下,雾滴粒子消光系数随粒子尺寸的变化。结合雾滴粒子谱分布,考虑粒子群的平均体系散射特性,得到了不同波长下的平均反照率与相函数。最后分析了THz波段信号在不同能见度雾中的传输特性。结果表明:大气环境中,雾对THz波产生的吸收和衰减不容忽视,不同THz信号的水的折射率虚部的变化严重影响了THz信号在雾中的传输。     

锂离子电池正极材料Li[NixCoyMnz]O2 (x = 0.6, 0.85)相变对比

本文主要对高镍三元材料（Li(Ni_0.85Co_0.1Mn_0.05)O₂,Ni85）和常规低镍三元材料（Li(Ni_0.6Co_0.2Mn_0.2)O₂,Ni60）两种三元材料的相变电压范围进行了划分和测定,以研究两种材料相变规律的区别,并进一步分析得出高镍材料在充电过程中的结构稳定性相对较弱的原因。本文主要采用了XRD、dQ·dV^-1以及SEM的表征方式对两种材料的相变、结构变化及颗粒表面的形貌进行分析。并得出以下结论,高镍正极在3.0 V ~ 4.2 V范围内充电时经历了H1→M→H2→H3的三次相变过程,最终产物为H3相。而传统Ni60材料在相同电压范围内只经历了H1→M的相变过程,当过充至4.550 V时,Ni60材料可达到H2相,继续过充至5.000 V后,可完成H3相的转变。因此,高镍正极材料在正常充电电压范围内即完成了H3相的相转变过程,其较低的相变电压阈值是其结构稳定性较差的原因。     

基于云计算的企业管理培训系统优化设计

当前很多企业的管理培训系统依然采用IT架构,存在运营成本大、扩容难、安全性较低等问题。该文首先分析现有企业管理培训系统的不足,提出采用Windows Azure云计算平台构建和优化企业管理培训系统的设想。然后分析了企业管理培训系统的需求,认为系统应包含学习模块、考试模块和分析报告模块。而后根据需求设计了包括新建试题流程、新建考试流程、员工参加培训及考试流程这3个流程在内的基于云计算平台的企业管理培训系统。最后介绍了基于Windows Azure云计算平台构建集访问控制子系统、考试管理子系统、在线考试子系统于一体的企业管理培训系统。经测试,该系统运行顺畅,成本低廉,安全性和实用性较高。     

雾天气中THz与红外的传输特性

基于HITRAN数据库,对比了大气主要成份分子对THz波段的吸收.从Mie理论出发,结合雾滴粒子谱分布,分析了不同波长信号雾滴粒子群的平均体系散射特性.采用蒙特卡罗方法,得到了红外波段和THz波段雾天气的透过率、反射率,以及前向、后向散射强度.结果表明:THz波段内,频率越低,透过率越高,反射率越低,后向散射强度越小;相同传输距离下,THz波段比红外波段具有更好的透射能力;相同散射角下,红外波段信号前向散射强度大于THz波段.该研究结果对THz技术在大气空间中的应用具有重要意义.     

MOS4K电路研制中的硅片制备

一、前言 硅单晶质量是影响器件性能和成品率的重要因素之一,尤其是大规模集成电路,管芯面积大,集成度高,要求材料高完整性、高均匀性、低杂质含量,并增大直径。由于器件仅仅制作在硅片表面几微米(MOS型)至10微米(双极型)范围内,而这个表面正好是经过切、磨、抛人为地加工出来的,因此硅片表面加工质量