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为了验证束流强度分布对膜厚的影响,通过束流分布的理论计算模拟出外延膜的分布,并与外延实验样品数据进行了对比,结果证实了我们的猜测,可以部分解释膜厚分布不均的情况。利用公式计算束流强度的分布,得出最薄点应为最厚点的73.26%。实验测试的膜厚的最厚点为8.1582 μm,最薄点为5.9362 μm,比例为72.76%,与计算结果基本相符。因此,可以确定束流强度分布对膜厚有一定的影响。但实际材料的膜厚不仅受束流分布的影响,还与其他工艺参数相关。由于采用了理论计算与实验相互对比的方法,比单纯实验所得出的结果更准确可靠。 相似文献
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红外材料锑化铟的原材料之一是高纯度铟,其杂质元素的种类和含量直接影响了探测器的性能。因此建立准确高效的痕量元素定量测试方法尤为重要。通过严格控制温度保证酸解过程的可实现性,使用标准加入法建立标准曲线并对样品进行测试。经过响应率对比,该项测试选取的基底样品为单标溶液In10000,标准曲线的线性相关系数均接近于0.999。排除线性差异的影响,对多批次的测试结果进行分析并验证其准确性。同时采用内标法验证In10000溶液内的多种杂质元素含量。结果表明,基底样品具有极低的杂质含量。通过配置已知标准浓度的溶液对该测试方法的准确性和可重复性进行多次验证。测试结果表明,该项测试方法准确有效,可应用于高纯(大于6N) In的杂质含量测试。 相似文献
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The title compounds(5a and 5b)were synthesized from ursolic acid and their structures were characterized by spectroscopic methods including ESI-MS,1H-NMR,13C-NMR and elemental analysis.The crystal structures of compounds 5a and 5b were determined by single-crystal X-ray diffraction analysis.Compound 5a crystallizes in monoclinic system,P21 space group with a=12.258(3),b=10.396(2),c=15.570(3)?,b=107.21(3)°,Z=2,V=1895.3(7)?3,Mr=659.90,Dc=1.156 Mg/m3,S=1.003,μ=0.076 mm?1,F(000)=716,the final R=0.0686 and wR=0.1430 for 1859 observed reflections(I>2σ(I)).Compound 5b crystallizes in monoclinic system,P21 space group with a=12.371(3),b=10.647(2),c=15.722(3)?,b=109.44(3)°,Z=2,V=1952.8(8)?3,Mr=655.93,Dc=1.116 Mg/m3,S=1.002,μ=0.069 mm?1,F(000)=716,the final R=0.0686 and wR=0.1882 for 2574 observed reflections(I>2σ(I)).The preliminary cytotoxic assay indicated that compound 5b exhibited notable cytotoxic activity against MCF-7 and HeLa cells with the IC50values of 10.71±0.23 and 12.63±0.31μM,respectively. 相似文献
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