基于卓越工程师教育的频率特性分析课堂教学研究

频率特性分析在工程应用中具有重要的作用,在电路分析、模拟电子技术、信号与系统、自动控制理论等相关课程中都涉及到相关章节内容,在不同课程中如何根据工程应用和学生学习阶段把握具体的讲解内容和讲解方式非常重要。本文从频率特性的求解方法和具体物理意义角度开展在不同课程中讲解的方法,从时域和频域角度分别讨论其物理意义和具体的分析方法。通过渐进深化的教学过程和教学方法不断提高学生的知识掌握和应用技能,提高学生的工程意识、工程素质和工程创新能力,强化学生对于频率特性课程知识的综合应用能力。     

近红外光谱LASSO特征选择方法及其聚类分析应用研究

近红外光谱技术是一种通过分析样本的特征光谱数据,实现定性或定量分析的无损检测方法,特征数据的完整性和代表性决定了所建模型的性能,而现有分析方法只能实现光谱子区间特征筛选,导致分析模型稳定性差、且难以再优化。为实现近红外光谱区间高维数特征提取,有效提高近红外光谱定性分析模型的精度和稳定性,提出一种基于最小绝对收缩和选择算法(LASSO)的光谱特征筛选方法,并以我国特色高值外贸产品云南松茸为分析对象进行聚类应用研究,讨论了该方法对于高维光谱特征筛选的有效性、分析对比了LASSO筛选特征变量及主元分析(PCA)降维算法所建松茸真伪甄别及食用菌分类模型的预测精度及稳定性。通过调研发现,云南产鲜松茸因其独特外形易于分辨,而片状的干松茸失去其独有的外形特征,导致国内干松茸掺假事件屡禁不止。选取云南产松茸、杏鲍菇、老人头、姬松茸四种干样共166样本数据进行分析,采用光谱范围为900～1 700 nm的NIRQuest512型近红外光谱仪获得166×512维原始光谱数据,剔除异常数据后采用标准正态变换对光谱数据进行预处理。在此基础上,利用LASSO筛选出全光谱区间的特征变量,再使用Kennard-Stone法并结合典型线性(KNN)和非线性建模(BP)算法,构建松茸真伪甄别模型和食用菌分类模型,对两种模型进行盲样测试,并分析了LASSO与PCA算法的不同点,最后使用蒙特卡罗方法检测两种模型的稳定性。实验结果表明基于LASSO光谱特征选择的松茸真伪甄别模型和食用菌分类模型预测精度和稳定性均高于PCA方法,其中基于原始光谱数据所建真伪甄别模型的预测准确率为69.57% (BP)和60.87% (KNN),食用菌分类模型准确率为67.39% (BP)和65.22% (KNN),基于LASSO特征筛选的真伪甄别模型预测准确率分别达到100% (BP)和78.26% (KNN),食用菌分类模型预测准确率分别达到89.13% (BP)和80.43% (KNN),对两种模型进行10次蒙特卡罗实验,其结果平均值分别为99.93%和97.22%,由此可知,与PCA等数据降维算法相比,LASSO可实现全光谱区间的光谱特征选择和数据降维,有效地提高了近红外定性分析模型的预测性能,为近红外分析提供了一种新的特征筛选方法。     

半导体混合加工制程的虚拟量测方法

为提高经济效应,半导体加工制程变得越来越复杂,生产线上同时有不同规格的产品在混合加工,能够同时预测这些规格晶圆的最终品质对提高晶圆的生产良率有着重要的意义。本文针对这种混合制程,提出一种虚拟量测算法,在统计回归的基础上,找出影响制程的关键变量,考虑不同规格晶圆的产品效应,利用共变异数分析算法辨识出虚拟量测模型,线上测试结果表明,本文算法不仅可以精确的预测待加工晶圆的线宽,而且可以用于半导体加工制程晶圆的故障侦测。     

“智能控制”课程中模糊控制PBL教学研究

基于项目的学习(PBL)是一种以学生为中心的教学模式。本文在“智能控制”课程教学中引入PBL教学模式,以寻迹小车仿真为例设计了PBL模糊控制教学案例,探讨了开展PBL案例教学的设计步骤与实施方法。教学实践表明,PBL教学模式可以增强学生的学习兴趣,促进学生提升自主学习能力,实现强化团队协作和创新能力的培养目标。     

串行显示驱动器PS7219及在单片机系统中的应用*

介绍了一种静态显示驱动器PS7219芯片的工作原理,给出了一个适于单片机的结构简单且十分复用的静态显示系统,并以89C51单片机为例,讨论了硬件连接和软件编程。     

基于三导体耦合线的毫米波Marchand balun建模与设计

本文提出了一种基于三导体耦合线结构的毫米波Marchand巴伦的新型宽带模型。基于c模和π模理论,对三导体耦合线进行了分析并采用传输线和理想变压器对其建立了模型。通过电磁场仿真提取了模型参数并使用该耦合线模型建立了Marchand巴伦的模型。基于该模型,本文使用GaAs工艺设计了一种毫米波Marchand巴伦并进行了流片制造,所设计的巴伦工作在15GHz~55GHz频率范围,测试结果表明该巴伦具有较好的幅值和相位平衡度,同时验证了模型的准确性。     

Development of a virtual metrology for high-mix TFT-LCD manufacturing processes

Nowadays,TFT-LCD manufacturing has become a very complex process,in which many different products being manufactured with many different tools.The ability to predict the quality of product in such a high-mix system is critical to developing and maintaining a high yield.In this paper,a statistical method is proposed for building a virtual metrology model from a number of products using a high-mix manufacturing process.Stepwise regression is used to select key variables that really affect the quality of th...     

基于Web的电网参数监测与管理系统研制

针对电网信息采集要求,结合计算机技术、网络技术和远程监控技术,采用Visual Studio 2010开发软件和SQL Server 2008数据库,设计了基于Web的电网参数监测与管理系统。该系统对监测仪进行实时监控,获得数据信息,存储到数据库服务器,并进行处理分析,得到各个电网监测点的运行情况,为改善电网电能质量提供了有力的保障。现场应用表明,该系统具有较高的可行性、可靠性与实时性。     

串行显示驱动器PS7219及与单片机的接口技术

<正> 在单片机的应用系统中,为了便于人们观察和监视单片机的运行情况,常常需要用显示器显示运行的中间结果及状态等等,因此显示器往往是单片机系统必不可少的外部设备之一。常用的显示器有很多种,其中LED(发光二极管显示器)     

深度反应离子蚀刻过程的统计关键变量分析与推理控制

随着集成电路（IC）的小型化和智能化的需求不断增加,集成电路的电子封装已成为一个新的研究热点。 3D IC利用硅通孔技术（TSV）满足了这一需求,利用深度反应离子蚀刻（DRIE）过程制造TSV也越来越成熟。然而,能够预测和控制硅蚀刻工艺参数对蚀刻质量的影响是DRIE过程的关键。本研究提出一种基于变量分析建立DRIE过孔深度虚拟测量(VM)模型方法。利用特征提取算法减少过程数据的维度,以便于后续模型辨识的需要。在VM模型的基础上,设计推论控制器,提高晶元的深孔质量。实际工业数据验证表明：该方法可以将误差减少到9*10（-4）,大大的改善现有的DRIE工艺。