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双极晶体管发射结电流趋热效应及其对结温测量的影响   总被引:4,自引:1,他引:3  
研究了当双极晶体管芯片有源区出现热班时流经其发现结的电流的趋热行为及其对用ΔVBE法测量结温的影响,提出了一种快速判定器件有源区温度分布均匀性的办法。  相似文献   
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