矢量网络分析仪的原理及故障检修

介绍了微波矢量网络分析仪（HP8720C）的工作原理和电路特点，并讲述了几个典型的故障检修实例。     

微波频谱仪的工作原理及常见故障的检修

介绍了微波频谱仪（HP859X系列）的工作原理，给出了基本校准程序和幅度校准数据表，以及一些常见故障的检修方法。     

厚度对Si衬底上生长的ZnO薄膜性能的影响

采用金属有机化学气相沉积方法,在Si(100)衬底上生长出具有高度C轴择优取向的ZnO薄膜.通过X射线衍射、原子力显微镜和室温光致发光谱研究了厚度对ZnO薄膜的结构、表面和光学性能的影响.X射线衍射图显示ZnO薄膜只有单一的(0002)峰,具有高度择优取向.AFM和PL测试表明,在取样薄膜厚度范围内,薄膜的表面质量和发光性能没有随着薄膜厚度的增加而提高.这是因为薄膜在厚度增加的生长过程中,生长模型变化且晶粒增大.     

锁相环技术在电子仪器中的应用和检修

介绍了锁相环基本原理的几种形式，以及它在合成扫描WILTRON6747和矢量网络分析仪WILTRON360中的应用，并根据仪器系统自检时出现的失锁信息，讨论了锁相环进行故障定位的方法。