A STUDY OF Zn DIFFUSION IN InP AT LOW TEMPERATURE

The diffusion of Zn in InP at low temperature is investigated.The experiment is accomplishedin an evacuated and sealed quartz ampoule using Zn_3P_2 as the source of Zn.The electrical characteristics of the diffusion samples obtained by the isotemperature processand the two-temperature process have been compared.It is found that with the two-temperatureprocess one can obtain a smooth,damageless and high-concentration surface layer.This processhas been applied to fabricate InGaAsP/InP light emitting diodes,and the diodes obtained have anoutput power of≥1mW with a series resistance of 2—5Ω.The behaviors of Zn diffusion in InPare discussed.     

Zn在InP中低温扩散的研究

本文用Zn3P2源在闭管条件下研究了Zn在InP中的低温(520700℃)扩散。比较了用等温扩散和双温区扩散技术扩散后,样品的电学参数。结果表明:双温区扩散法可得到表面光亮,无损伤的高浓度表面层。该法已用于InGaAsP/InP双异质结发光管的制备工艺中,并制得了光功率1mW,串联电阻23的发光管。还讨论了Zn在InP中扩散时的行为,解释了低温(550℃)扩散过程中,等温扩散时出现的异常现象。     

InGaAsP/InP双异质结发光管退化特性的研究

在室温(15～35℃),大气气氛中研究了InGaAsP/InP双异质结发光二极管的退化特性。有二种慢退化类型,连续工作104小时后,InGaAsP/InP发光二极管的电学参数、光学参数(除原有暗结构的B型慢退化器件,老化初期光功率下降10～20%外)均无明显变化。用红外电视选行扫描仪观察了老化过程中发光区的EL图象。研究了该器件的退化特性与EL图象的变化规律,找出了它们的对应关系。用扩展缺陷模型解释了InGaAsP/InP双异质结发光管的退化机理。     

液相外延生长GaInAsP/InP双异质结的研究

本文报导在(100)晶向InP衬底上,液相外延生长(λ=1.0～1.31μm)GaInAsP/InP双异质结的研究结果。测定了600—670℃温度范围内InP在In中的饱和溶解度,研究了Te、Sn和Zn、Mg等掺杂剂的行为。用X光双晶衍射法研究了GaInAsP/InP异质结的晶格失配,用扫描电镜电子束感生电流法和电化学C-V法研究了外延片中p-n结偏位现象。用光吸收法测试外延片吸收边,估算了外延片中四元层的禁带宽度,并与制管后的发光波长作了比较。外延片可制得发光波长1.0～1.3μm、功率达1mw(100mA工作电流)的光通讯用小面积发光二极管。     

GaInAsP/InP异质结液相外延层晶格匹配的研究

正 (一)引言 GaxIn1-xAsyP1-y四元合金材料在很宽的组分变化范围内     

P型InP欧姆接触特性的研究

一、引言随着InP光电器件的发展,尤其是长波长InGaAsP/InP异质结的光源器件和探测器的进展,对P型InP(InGaAsP)材料的欧姆接触特性的研究日益令人感到兴趣。以往的工作中广泛采用Au-Zn合金作为欧姆接触材料,该合金虽能使较低受主浓度的P-InP衬底或外延层形成欧姆接触电极,但它的缺点是与衬底的粘附性差易于剥落,而且它的接触电阻率也偏高(10~(-2)～10~(-3)Ω·cm~2)。本文目的是探索对P-InP新的欧姆接触材料,实验比较了Au-Zn、Ti-Au-Zn和     

1.3μm InGaAsP/InP双异质结发光管的特性研究

用液相外延技术生长的三层和四层InGaAsP/InP双异质结材料,制成了1.3μm InGaAsP/InP双异质结发光管。光功率输出(100mA)>1.0mW,最高2mW,尾纤输出功率(N.A.0.23,芯径60μ)>50μW。文中描述了器件的特性参数,还讨论了光功率的饱和特性和退化特性。     

InGaAsP/InP双异质结发光管光功率的温度和饱和特性

<正> 一、引 言 石英光纤在1.0～1.7μm范围有低损耗和低色散,因此长波长光纤通信是近年来发展较快的领域.为了使长波长光通信系统实用化,研究可作为这一系统光源用的 InGaAsP/InP双异质结发光管光功率的温度和饱和特性,具有现实意义.     

1.3μm InGaAsP/InP双异质结发光二极管的研究

随着光纤通信系统的发展,长波(1.1—1.7μm)光源的研究巳广泛引起重视。因为在这一波长范围内,石英光纤具有低的传输损耗和材料色散。文献[1]指出,用InGaAsP/InP发光二极管(λ=1.3μm)作光源的系统的传输容量比目前常见的用GaAlAs/GaAs发光     

THE STUDY OF LATTICE MATCH IN GaInAsP/InP HETEROJUNCTION LPE LAYERS

The effects of the growth conditions of two-phase solution liquid phase epitaxy(LPE)(i.e.growth temperature,cooling rates and solution composition)on lattice mismatch and band-gapwavelength in GaInAsP/InP heterojunction LPE layers have been investigated by X-ray double-crystal diffractometry and double-beam spectrophotometry.The stress in the grown interface freeof misfit dislocations and lattice mismatch at growth temperature have been calculated.