高频大功率晶体管的失效分析

介绍了对某型号高频大功率晶体管进行的失效分析。分析结果表明器件在寿命试验中发生击穿失效的主要原因是芯片的散热结构存在工艺和设计方面的问题，这也是影响高频大功率工作寿命的主要问题。     

严把进口元器件的质量关

本文根据几例对进口元器件进行失效分析、试验和检测的结果,讨论了当前国内部分整机单位在购买进口元器件时,可靠性方面存在的一些问题,并提出了一些改进方法和建议。     

光电耦合器的CTR退化机理及其控制对策

研究探讨了光电耦合器电流传输比 (CTR)的退化现象及其退化机理 ,提出了控制CTR退化的主要技术途径。