CPU中可伸缩低开销的硬件调试器设计

介绍了一种基于JTAG的片上调试的低开销、可伸缩、支持“非侵入性”调试的硬件实现方法。该实现方法是通过在片上调试模块中引入一组映像寄存器，用于跟踪和设置CPU的状态。使用该方法避免了在CPU的关键路径上插入扫描链而限制了CPU性能提高的缺点。此外，本文还阐述了精确硬件断点的实现方法，调试模块实时监视数据地址总线和指令地址总线，当地址与预设值吻合时使CPU进入调试模式，该实现方法支持在程序全速运行时在断点处进入调试模式。本文所提出的方法已经在CK520嵌入式CPU中得到应用和证明。     

单元特性提取中采样点偏离现象的研究

为使应用于集成电路设计中的单元时序信息库更能反映实际情况，研究了特性提取中出现的采样点分布偏移和格点偏离现象，并提出了有效的解决方法。该方法通过建立查表模型，无需多次重复仿真就能准确定位任意采样点。理论分析和仿真结果均表明，该方法不仅耗费时间少；定位也能满足单元建库的要求，经过实例化后，能很好地应用于超深亚微米工艺下的单元特性提取。