串行EEPROM器件及其测试程序设计

近几年串行EEPROM广泛应用于智能卡、蜂窝电话、SIM模式识别、网络节点ID的存储等方面,因此很有必要了解这一器件的操作情况及测试程序设计方法,以便于更好地使用它和维护机器。本文以24C16为典型介绍的测试编程方法,同样适用于MPSX8404、X25043等门类的EEPROM。     

EPROM系列电路测试程序设计

简要介绍了ＥＰＲＯＭ存储器的工作原理；着重介绍了用程序设计对ＥＰＯＲＭ电路功能的测试方法。     

CMOS集成电路测试中的几个问题

作者根据多年来对CMOS集成电路测试过程中发现的一些技术问题,提出了解决办法。本文较详细介绍了CMOS器件的功耗概念,ΔI_(CC)参数的重要性及测试方法。对于近几年已引起集成电路厂商和军界重视的使用I_(CCQ)测试法发现工艺制造过程中可能存在的缺陷,作一简要介绍。文章还叙述了芯片测试过程中存在的波形反射及解决办法,对于因连线引起的参数误差,提出了修正措施。