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为了有效地在规格说明层面对软件系统进行测试,A.J.Offutt[1]针对系统的状态规格说明定义了一系列覆盖准则,并阐述了如何基于系统的状态表示生成满足覆盖准则的基本方法。本文引入了一种应用于大型集成电路设计的数据结构OBDD(有序二叉决策图)作为生成测试用例的基本结构,创新地提出了一种新的生成测试用例方法。  相似文献   
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