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1.
Y^(3+)掺杂ZnO薄膜的结构及性能研究
贾聪颖
谭红琳
杨应湘
《半导体光电》
2012,33(3):379-381
采用溶胶-凝胶法在玻璃衬底上成功制备出Y3+掺杂的透明ZnO薄膜。通过X射线衍射仪(XRD)、扫描电镜(SEM)和紫外分光光度计分析了掺杂Y3+对ZnO薄膜结构和性能的影响。结果表明:Y3+成功掺入氧化锌的晶格内;随着掺杂浓度的提高,薄膜的透光率并未表现出一定的规律性;随着退火温度升高,薄膜的透光率明显得到提高;在530℃退火时,薄膜的表面形貌形成网状结构且透光率达到70%左右。
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