纳米颗粒在低温保护剂中分散性研究

纳米颗粒加入低温保护剂中改善低温保护剂结晶性是一个新兴的研究方向,但是由于低温保护剂中化学键的作用和小颗粒效应的影响,纳米颗粒的分散性能往往受到抑制。文中以吸光值为指标,研究了不同纳米颗粒在低温保护剂中的分散和沉降性能。结果发现:尽管不同的纳米粒子的分散效果不同,使用超声波分散纳米颗粒时,5分钟左右为最佳分散时间。纳米粒子受pH值、颗粒种类、低温保护剂中含水量的影响,分散效果不同。     

NLDMOS器件性能优化及分析

提出一种改善n型横向双扩散金属氧化物半导体(NLDMOS)器件性能的工艺方法。该方法基于某公司0.18μm标准工艺流程,通过在NLDMOS的共源处增加一道离子注入,引出衬底电荷,以优化NLDMOS器件的击穿电压(Vb)与比导通电阻(Rsp)。选择不同的注入离子浓度与快速热退火时间,研究了器件的Vb与Rsp变化。由于离子激活效率不足,单纯增加20%的注入离子浓度,器件的耐压性能提升极小,采用增加20%注入离子浓度结合延长20s快速热退火时间的方法,NLDMOS器件的Vb提高约2.7%,同时Rsp仅增加0.9%左右。     

同轴封装半导体激光器的散热研究

通过对激光器传热过程的理论分析,建立了同轴封装半导体激光器的物理散热模型,利用计算流体力学(CFD)软件对T056和T038两种同轴封装的半导体激光器进行了散热模拟分析,并设计了相关的实验(在激光器里面装上热敏电阻)对激光器管芯的温度进行检测,实验结果与仿真结果非常吻合,对激光器组件的设计有一定的指导意义.     

HA纳米微粒对PEG-600低温保护剂反玻璃化结晶的影响

为了研究羟基磷灰石HA纳米微粒对低温保护剂反玻璃化结晶的影响,本文利用DSC和低温显微镜研究了含有不同粒径(20nm、40nm、60nm)和不同质量浓度(0.1%、0.2%、0.4%、0.8%)HA纳米微粒的PEG-600(50%,w/w)溶液反玻璃化过程中的结晶现象.试验结果表明:与未添加纳米微粒的PEG-600溶液相比,加入40nm、0.4%纳米微粒的HA-PEG600溶液的反玻璃化温度升高了7℃;加入20nm、0.4%和40nm、0.8%纳米微粒的HA-PEG600溶液的冰晶生长速率分别降低了35%和提高了50%;纳米低温保护剂溶液的冰晶形貌从大圆形变成了小圆形、枝晶或小圆形中夹带枝晶.     

10 G-EPON光电器件的研制

文章首先对万兆以太网无源光网络(10 G-EPON)的网络拓扑结构、波段的分配和功率预算作了介绍,接着以非对称10 G-EPON 光网络单元(ONU)端单纤双向器件(BOSA)为例,对器件研制的关键技术进行了简要探讨,最后介绍了对样机进行的全面测试,并对测试结果做了分析.     

HA纳米微粒对PEG-600低温保护剂玻璃化性质的影响

为了研究羟基磷灰石HA纳米微粒对低温保护剂玻璃化性质的影响,利用DSC测量了含有不同粒径(20nm,40nm,60nm)和不同质量浓度(0.1%,0.2%,0.4%,0.8%)HA纳米微粒的PEG-600(50%,w/w)溶液的玻璃化温度。试验结果表明:加入40nm,0.8%HA的PEG-600溶液的玻璃化转变温度最大,熔融温度最小,稳定性也最高。与未加纳米微粒的PEG-600溶液相比,玻璃化转变温度提高了5℃,熔融温度降低了4.5℃,稳定性提高了近30%。加入60nm,0.8%HA的PEG-600溶液的玻璃化转变温度和反玻璃化温度都是最小,而熔融温度最大,稳定性也最低。与未加纳米微粒的PEG-600溶液相比,反玻璃化温度降低了4.5℃,稳定性降低了14%。     

车载光电系统跟踪精度的分析与提高

为提高车载光电系统作战性能,对系统跟踪精度的影响因素与误差源进行分析。进而根据误差的产生条件,对其进行分类与合成,推导出系统误差与随机误差的计算公式。并以某一光电系统为例分析计算,最后提出跟踪精度提高与补偿的方法。结果表明,该光电系统的方位系统误差为0.325 mrad,俯仰系统误差为0.283 mrad,随机误差为0.276 mrad,均小于0.5 mrad,满足技术指标要求。