基于BDD的组合电路等价性检验方法

文章分析了目前常用的等价性检验方法的特点，包括功能性和结构性的验证方法，讨论了基于二叉判决图（BDD）的组合电路等价性检验方法，并分析了等价性检验过程中的误判问题及其消除方法，然后给出了一种关于带黑匣子的部分实现的隐式等价性检验方法，实验结果表明了该方法的有效性。     

基于输出违例概率的时延向量测试质量评估

针对冒险引起的测试质量评估误差,本文提出了一种基于输出违例概率的测试质量评估方法.定义了到达时间窗口和输出违例概率的概念,使用输出违例概率来反映测试向量的小时延缺陷检测能力,有效地避免了忽略冒险引起的计算误差,从而准确的评估了向量对小时延缺陷的检测质量.实验结果表明,相对于基于输出偏移的国际同类方法,本文的评估方法不增...     

门时滞故障大小的计算

本文提出了一种简化的八波形方法,以描述门时滞故障模拟中的实际波形,并给出了波形的计算方法。八波形方法充分考虑了门输出波形的类型与输入波形的类型和时间因素的关系,比较精确地反映了故障模拟中的实际波形。在八波形描述的基础上,提出了一种δ—事件驱动的故障模拟算法,以确定被测门时滞故障的大小。     

考虑串扰影响的时延测试

超深亚微米工艺下，串扰的出现会导致在电路设计验证、测试阶段出现严重的问题。本文介绍了一个基于波形敏化的串扰时延故障测试生成算法。该算法以临界通路上的串扰时延故障为目标故障进行测试产生．大大提高了算法的效率。实验表明，以该算法实现的系统可以在一个可接受的时间内。对一定规模的电路的串扰时延故障进行测试产生。     

模拟验证中的覆盖评估准则

模拟作为实际工程领域中设计验证的主要方法，其不完备性常常是不可避免的，对大规模的设计方案尤其如此，因此覆盖评估成为模拟验证中不可或缺的技术，文章在陈述覆盖评估意义的基础上，详细介绍了现有的各类覆盖评估准则，剖析了各个准则的优缺点，并通过实验得出比较数据。     

基于测试向量中不确定位的漏电流优化技术

众所周知,CMOS电路测试时由漏电流引起的漏电流功耗在测试功耗中处于重要地位.降低测试时的漏电流对于延长需要周期性自测试的便携式系统电池寿命、提高测试的可靠性和降低测试成本都至关重要.文章首先分析了漏电流的组成,和与之相关的晶体管的堆栈效应.然后,我们提出了一种基于测试向量中不确定位(X位)、使用遗传算法优化集成电路测试时漏电流的方法.实验结果证明在组合电路和时序电路测试中该方法能够在不影响故障覆盖率的条件下,有效优化测试时电路的漏电流.