全文获取类型
收费全文 | 38篇 |
免费 | 8篇 |
国内免费 | 11篇 |
专业分类
化学 | 6篇 |
数学 | 1篇 |
物理学 | 16篇 |
无线电 | 34篇 |
出版年
2022年 | 2篇 |
2020年 | 2篇 |
2017年 | 1篇 |
2016年 | 1篇 |
2015年 | 1篇 |
2014年 | 1篇 |
2013年 | 5篇 |
2012年 | 2篇 |
2011年 | 1篇 |
2010年 | 1篇 |
2009年 | 6篇 |
2008年 | 3篇 |
2007年 | 1篇 |
2006年 | 3篇 |
2005年 | 2篇 |
2003年 | 3篇 |
2002年 | 3篇 |
2001年 | 3篇 |
2000年 | 5篇 |
1999年 | 1篇 |
1998年 | 2篇 |
1997年 | 1篇 |
1993年 | 1篇 |
1991年 | 2篇 |
1989年 | 1篇 |
1986年 | 1篇 |
1984年 | 2篇 |
排序方式: 共有57条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
2.
本文以校园配电网为依托,构建了校内电类专业实习基地。实习以校园地图为导航,通过对校园配电设施实地考察,使学生摸清了配电系统的脉络,了解了输配电设备的结构、功能和作用;学生通过对退役后的设备拆卸搭建重现模拟配电系统,进一步零距离接触设备,加深了实习印象,提升了实习效果。 相似文献
3.
Mathematica在统计模型方面应用广泛,能够解决以下各类问题:统计数据;区间估计;假设检验;回归分析;方差分析。针对工业生产过程中遇到的统计模型,利用Mathematica进行分析,可以准确快速的解决问题。 相似文献
4.
施主深度为PTCR效应的关系,一方面受各种杂质乃至助烧剂影响而变得复杂化;另一方面也被很多作者所忽视。然而,这一关系可以在定程度上映射出PTCR效应的本质。海望曾指出,在BaTiO3材料中,晶界上过剩施主的堆集,能够形成晶界层中高深度的表面受主态,从而使材料PTCR效应迅速提高。尽管海望的表面受主态模型被广为接受,然而,我们研究了Sm2O3掺杂的BaTiO陶瓷中掺杂浓度与PTCR效应的关系,结果表明:随着稀土掺杂量的提高,材料的升阻比隆低。采用其他稀土元素,也得到相同的结果。因此,PTCR效应应当来源于在铁电相变点,晶界层中电子陷阱中性钡缺位被激活俘获自由电子;过剩施主的增加只能增加材料的室温电阻率,而不能提高PTCR效应。 相似文献
5.
施主浓度与 PTCR效应的关系 ,一方面受各种杂质乃至助烧剂影响而变得复杂化 ;另一方面也被很多作者所忽视。然而 ,这一关系可以在一定程度上映射出 PTCR效应的本质。海望曾指出 ,在 Ba Ti O3材料中 ,晶界上过剩施主的堆集 ,能够形成晶界层中高浓度的表面受主态 ,从而使材料 PTCR效应迅速提高。尽管海望的表面受主态模型被广为接受 ,然而 ,我们研究了 Sm2 O3掺杂的 Ba Ti O3陶瓷中掺杂浓度与 PTCR效应的关系 ,结果表明 :随着稀土掺杂量的提高 ,材料的升阻比降低。采用其他稀土元素 ,也得到相同的结果。因此 ,PTCR效应应当来源于在铁电相变点 ,晶界层中电子陷阱中性钡缺位被激活俘获自由电子 ;过剩施主的增加只能增加材料的室温电阻率 ,而不能提高 PTCR效应 相似文献
6.
钛酸钡基半导化陶瓷中的PTCR效应通常与材料中的施受主掺杂切相关,蒸汽掺杂能够大幅度影响材料的PTCR效应。CdO在高温下具有较高的蒸汽压,是一种适用的蒸汽掺杂剂,研究了CdO以及CdO蒸汽对掺Y^3+的Ba1-xSrxTiO3陶瓷的PTCR效应的影响,结果首次发现了Cd^2+掺杂样品的PTCR效应都有不同程度的提高,采用蒸汽掺杂时,效果更为显著。现有的理论很难解释Cd^2+掺杂能够提高钛酸钡基材料PTCR效应。我们从缺陷化学的角度,分析了Cd^2+在BaTiO3基材料中的行为,推断表明这种现象可能是由于铁电相变时,处于晶界区的Cd^2+在Ba位和Ti位之间转换造成的。 相似文献
7.
硅基氧化铝纳米有序孔列阵制备 总被引:4,自引:1,他引:4
本文报道用自组织法在硅片上制备纳米多孔氧化铝列阵的技术.在P型〈100〉晶向,电阻率为0.5Ω·cm的清洁硅片上,用电子束蒸发一层400nm厚的99.99%高纯铝膜,然后将其作为阳极,浸入15wt%H2SO4溶液中,在直流恒压40V、恒温0℃条件下进行电化学氧化处理.处理结束后,分别用透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM)对样品实施了平面形貌和横断面形貌观察,结果表明,在硅片上形成了一层厚约700nm,孔间距50nm,孔径17nm,局域呈六度对称的氧化铝纳米有序孔列阵.这种纳米多孔列阵可用作制 相似文献
8.
Effects of Low-Damage Plasma Treatment on the Channel 2DEG and Device Characteristics of AlGaN/GaN HEMTs 下载免费PDF全文
We investigate the effects of remote nitride-based plasma treatment on the channel carrier and device characteristics of AlGaN/GaN high electron mobility transistors(HEMTs).A 200 W NH3/N2 remote plasma causes little degeneration of carrier mobility and an increase in electron density due to surface alteration,which results in a decrease in sheet resistance and an increase in output current by 20-30%.Improved current slump,suppressed gate leakage current,and improved Schottk... 相似文献
9.
10.