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同步辐射X射线光刻实验研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
采用侧墙工艺技术研制深亚微米X射线掩模,并在北京同步辐射装置光刻束线上进行了同步辐射X射线曝光实验,初步获得了深亚微米光刻图形。  相似文献   
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