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1
1.
DC/DC辐照损伤与VDMOS器件1/f噪声相关性研究
王党会
许天旱
王党朝
曹衎
《半导体技术》
2008,33(12)
通过对DC/DC转换器低频噪声测试技术以及在γ辐照前后电性能与1/f噪声特性变化的对比分析,发现使用低频噪声表征DC/DC转换器的可靠性是对传统电参数表征方法的一种有效补充.对DC/DC转换器辐照损伤与其内部VDMOS器件1/f噪声相关性进行了研究,讨论了引起DC/DC转换器辐照失效的原因.
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