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本文对用蒸发法制备的非晶和多晶碲镉汞(Hg_(1-x)Cd_xTe)薄膜的结构特性及其光学和电学性质进行了研究。在800—2600nm的波长范围内测量了样品的透过率,得到了非晶和多晶状态相应的光学隙分别为1eV以上和0.65eV左右。对非晶样品的退火实验发现,在90—100℃区间退火使非晶样品的结构转变为多晶,同时电阻率突然变小约5个数量级和光学隙由1eV以上突变为0.62eV左右。在20—300K的温度范围内,分别测量了非晶与多晶样品的电阻率,所得结果可用现代非晶半导体理论进行解释。 相似文献
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本文将前人对硅烷类分子中Si—H红外吸收光谱实验结果和我们对其键长、键级的量子化学计算结果进行综合分析,得到了一个计算Si—H伸缩振动频率的半经验公式:v~2=1.635×10~7·P·R~(-3/2)+7.458×10~(-2)。用该公式对七种硅烷类分子的计算得到了满意的结果,平均偏差不超过0.4%。 相似文献
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本文用EHT方法对Si_(47)H_(60),原子团的电子态密度性质进行了多种情况下的计算分析,计算结果表明,非晶硅与单晶硅电子态密度谱的区别主要发生在B峰与C峰之间,而不是通常所认为的A峰与B峰之间,这与Hayes的XPS实验结果一致.据我们计算分析,得出产生这一区别的主要原因是键角和二面角无序,而不是以前人们所认为的键角的单一无序. 相似文献
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