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1.
采用大型透镜阵列对激光波前进行采样,实现了对宽光束的测量。大口径激光束经过大型透镜阵列进行采样形成光斑点阵,通过成像系统,获取点阵图像,得到激光束波前信息,根据激光传输理论和光学系统像差理论,已知激光束的波前函数和强度分布时,可以求出激光束会聚后在焦面处任意位置的光强,因此激光束的波前、发散角、近场分布、远场分布等参数能够通过测量求解得到。  相似文献   
2.
为了解决500mm以上大口径光束波前的实时测量问题,设计了一种波前测量系统,即透镜阵列测量仪,其最大优点是避免了现有的H-S波前传感器所面临的大口径缩束器的加工难题。介绍了该测量系统的组成结构及其测量原理,分析了测量系统在设计中的参数选择,并根据具体的系统参数讨论了测量系统的检测性能。在此基础上,利用数值模拟对1200mm口径光束进行了波前测量的仿真实验研究,分析了测量过程中系统标定对透镜阵列测量仪的作用。仿真实验表明,透镜阵列测量仪能够实现大口径光束的波前探测。  相似文献   
3.
Co-Ni合金纳米线有序阵列的制备与磁性研究   总被引:16,自引:2,他引:16       下载免费PDF全文
关键词:  相似文献   
4.
彭勇  王轶卓 《光散射学报》2005,17(2):132-136
首先利用耦合模理论研究了长周期光纤光栅LPFG折射率敏感特性,数值计算了长周期光纤光栅透射谱谐振波长与环境介质折射率的关系。其次分析了半导体氧化物气敏膜光学特性机理,当气体与薄膜接触时,气体会使敏感膜的消光系数、吸收系数和相应的折射率发生变化。基于上述两点,提出可将气敏膜涂于光栅表面,利用气敏膜的折射率随环境气体成分和浓度变化而变化的特性,从而影响LPFG透射谱谐振波长的变化,通过检测波长的变化达到探测气体成分和浓度的目的。由于长周期光纤光栅对环境介质折射率的灵敏度高于光纤,且其传感信号属于波长调制,测量信号不受光强波动及光纤损耗的影响,因此其灵敏度比强度型光纤气体传感器高。  相似文献   
5.
彭勇 《通信技术》2009,42(11):211-213
为了提高公交自动报站的准确性,让乘客有一个愉快的行车体验,文中讨论了两种基于GPS的公交自动报站算法,分别从线路站点信息的采集、车辆上下行方向的判断、进站的判定方法、出站的判定方法四个关键问题进行了充分阐述,并对两种方案各自的优缺进行了比较,第一种算法线路采集简单,算法复杂,准确性低,第二种算法线路采集复杂,算法简单,准确性高。在实际产品中采用了第二种算法,取得了良好效果。  相似文献   
6.
透镜阵列广泛应用于光束波前测试中,对大尺寸光束的检测要求,产生了对波前进行全尺寸检测的大尺寸透镜阵列。为安装透镜阵列,其固定支架设计为多圆孔板,圆孔的位置将决定安装透镜的精度,需对其进行检测与评价。采用数字图像处理方法,通过对孔板图像的去噪、二值化、图形提取、中心定位等数字化处理,分析圆孔排布的精度,对透镜阵列的定标分析提供了依据。  相似文献   
7.
彭勇 《通讯世界》2017,(19):214-215
针对电力调度运行人员工作风险问题,进行风险原因分析,提出风险预控措施.电力调度工作中,若调度指令票存在问题或者运行人员对于电网事故不明晰等,极易引发误操作,对电力系统运行的安全构成威胁.基于此,加强此课题的研究,提出有效的预控方案,有着必要性.  相似文献   
8.
对纳米Zr(OH)4粉体及其在不同温度(350~600℃)下的煅烧产物静态吸附Cu(Ⅱ)的行为进行了研究,并考察了影响静态吸附以及解吸的因素.试验结果表明,煅烧温度越高,样品的吸附效果越差.除了600℃煅烧的样品吸附性能较差外,纳米Zr(OH)4和其它样品在溶液pH》3时对Cu(Ⅱ)有很好的吸附效果,吸附率均大于96%.在实验范围内,吸附量最高可达到26400μg/g.被吸附的Cu(Ⅱ)在低浓度的盐酸(《2.0mol/L)中即可较好的被洗脱,100℃时解吸率可达到96%,同时也有很好的富集效果.  相似文献   
9.
激光导星共孔径发射接收的偏振分光效率研究   总被引:2,自引:1,他引:1  
在地平式折轴望远镜上开展自适应光学瑞利激光导星实验,研究了信标光束同孔径发射和接收偏振分光技术。基于镜面膜层复振幅反射特性,采用琼斯矩阵描述方法,建立了偏振分光物理模型,研究了共孔径发射和接收偏振耦合分光的效率问题,并与实验结果进行了比较。结果表明,由于镜面膜层对s光和p光的相位延迟差异,系统偏振分光效率随着望远镜的方位角旋转会发生周期性的变化,同时也受望远镜天顶角变化的影响。在研究光路反射镜相位延迟对往返分光效率影响规律的基础上,提出了提高地平式折轴望远镜激光导星共孔径发射和接收偏振分光效率,消除受望远镜方位角和天顶角变化影响的技术途径。  相似文献   
10.
光学薄膜弱吸收测试装置参数优化   总被引:1,自引:0,他引:1  
光学薄膜对入射光的弱吸收特性是评价元件质量的重要参数.在高能激光作用下,即使十分微弱的吸收也将足以导致薄膜元件的灾难性破坏.因此,有必要对光学薄膜的平均吸收及局部吸收进行精确、快速、实时的检测.从光热偏转技术发展而来的表面热透镜法由于其对测试装置要求的放宽,并且同样拥有较高的测试精度,是测试元件薄膜弱吸收特性的有效方法...  相似文献   
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