首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   3篇
  免费   0篇
无线电   3篇
  1995年   1篇
  1993年   1篇
  1990年   1篇
排序方式: 共有3条查询结果,搜索用时 0 毫秒
1
1.
Al—Si(1%)金属化电迁移参数的测定   总被引:1,自引:0,他引:1  
  相似文献   
2.
介绍几种快速分析金属膜电迁移失效的新技术:(1)利用晶粒大小分布璜示电迁移性能:(2)用电阻比法作为金属薄膜的监控器:(3)利用噪声测量预示电迁移的可靠性:(4)用内摩擦法分析电迁移失效.  相似文献   
3.
本文给出了由同一工艺线上加工的铝硅和铝硅铜金属互连线的电迁移加速寿命试验结果,后者寿命比前者要高一个数量级,我们对此作了简要的说明,并介绍了铝铜多层结构互连的的民迁移性能。  相似文献   
1
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号