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DDF是一种高容量的NAND Flash。以DDF产品为例,研究和讨论了它的Read Disturb测试方法。受测试时间的限制,只能选择局部的存储区间进行DDF的Read Disturb测试。这样局部区间的测试结果是否能够代表整个芯片的性能,设计了一套实验,对这个课题进行了研究和讨论。依据非挥发性记忆体产品的特性,主要以阈值电压的分布为参考来评价DDF芯片性能的一致性和性能恶化趋势的一致度。最后的实验结果证明了这种测试方法的正确性和合理性。这种分析方法也可以用于其他非挥发性记忆体产品的其他可靠性测试项目的评估。 相似文献
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张启华 《理化检验(化学分册)》1999,35(1):12-13
介绍一各建立在化学反应原理和数学推导基础上的间接测定铁氰化钾标准溶液(用于在)的滴定度的方法。测定铁氰化纯度(含量)并将其代入所建立的公式中,即可求出其滴定度,经试验验证,本法合乎定量分析的要求。本法与直接法相比,不仅测定速度快,而且避免了处理标准物的繁复操作,减小操作误差,提高了分析测定的精度。 相似文献
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聚氯乙烯与氯化聚乙烯共混改性的研究(Ⅱ) 总被引:1,自引:0,他引:1
本文用红外光谱法,差示扫描量热法(DSC)研究了氯化聚乙烯(CPE)的链结构性能及其对聚氯乙烯(PVC)改性的影响·用动态力学分析法(DMA)研究了PVC/CPE共混物的动态力学行为,表明CPE,PVC为部分相容两相体系。同时,用透射电子显微镜(TEM)观察了CPE在PVC/CPE共混物中的分布形态。当CPE在PVC/CPE共混物中形成比较完善的网络结构时,共混物具有更好的冲击性能。 相似文献
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介绍了非挥发性记忆体产品在进行耐擦写能力测试评估时如何合理地选取样本数的方法.在集成电路的可靠性测试中,样本数通常被理解为样品数,即芯片的颗数.对样本数进行了新的定义,将样本数定义为"芯片颗数×扇区数".这种定义吻合产品可靠性测试对样本的基本定义,可以适用于所有的集成电路可靠性测试,尤其适用于非挥发性记忆体的耐擦写能力测试评估.为了保证相同的测试信心度,考虑到在耐擦写能力测试中周边电路对耐擦写能力测试结果的影响,依照对样本数新的定义,在进行样本数等值选取计算的时候,引入了一个全新的补偿因子f,并且给出了样本数等值计算的公式.实验结果表明,在引入补偿因子f后,样本数等值计算结果更加可靠. 相似文献
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研究了非晶层占比对半导体器件透射电子显微镜(TEM)样品成像的影响。聚焦离子束(FIB)是制备TEM样品的重要工具,在TEM样品制备过程中,离子束损伤会在样品表面产生非晶层而使TEM图像产生畸变失真。在28 nm技术节点以下半导体器件TEM样品制备中,传统的制备方法会使样品在TEM下呈现非晶像或者图像质量不佳而不再适用。制备了一种楔形样品并使用平面转截面的样品制备方法研究了TEM呈晶格像时和非晶层临界占比的关系。实验表明,当样品中非晶层的占比超过0.66时,其在TEM下的成像为非晶像;当低于这一数值时,其在TEM下的成像为晶格像。针对非晶层对样品成像的影响,使用了一种低电压减薄的制备方法,通过降低非晶层占比可以显著优化表面成像,提高TEM样品的质量。 相似文献
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在进行开式叶轮离心泵(额定转速n=1450 r/min,流量Q=26.8 m3/h)的性能测试时,发现纤维悬浮液的存在使泵产生减阻特性。采用粒子图像测速法对叶轮流道进行拍摄,研究纤维粒子对流场的影响。结果发现,在质量浓度0.1%0.2%范围,流量0.4Q1.4Q范围,随着纤维浓度的增加,悬浮液的流动损失随之减小。通过高速摄影拍摄纤维粒子分布,发现流量较低时,纤维取向主要沿着圆周方向。而在额定流量和较大流量下,纤维取向倾向于随机分布。随着纤维浓度增加,流道内纤维之间的相互作用进一步增加,有利于减少流动损失。随机分布时的减阻效果明显高于圆周分布,随机分布导致相对速度更大的提升是主要原因。在整个实验过程中,没有产生纤维粒子导致的沉淀和堵塞现象。 相似文献
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