EBSD解析六方晶体的Bravais点阵

本文介绍了由单张EBSD花样确定晶体Bravais点阵的应用程序并阐述了其基本思路。首先利用从EBSD花样获取的菊池带宽度及方位角信息重构倒易初基胞,并根据带宽及菊池带之间的夹角建立超定方程组,求其最小二乘解,减小重构的误差。约化处理倒易初基胞得到倒易Bravais胞,再经正倒空间转换解析出正空间Bravais胞。程序可以自动标定并显示菊池带与菊池极的指数。     

EBSD花样的图像畸变及其修正

EBSD花样存在图像畸变,使得由其三维重构解析晶体Bravais点阵变得困难。本文详细介绍了EBSD衍射数据几何修正的方法：利用样品到屏幕的距离,由EBSD花样上的衍射数据修正晶体倒易矢量的长度及其夹角。使用透辉石晶体的EBSD花样,验证了几何修正的效果,结果表明衍射测量数据经过修正并用最小二乘法重新拟合后,倒易矢量偏离二维拟合网格的程度降低,其分布更接近真实情况。     

单晶电子衍射的相对强度

本文提出了一种新的表达电子衍射相对强度的经验公式。利用衍射斑点的灰度侧视分布图,详细研究了Ni-Fe-Ga合金中14M调制结构马氏体的选区电子衍射图。结果表明：晶体结构因数的对数值与其相应的衍射斑点灰度积分值差的函数呈线性关系。     

由EBSD谱三维重构晶体的Bravais点阵

本文提出了利用电子背散射衍射（EBSD）技术确定块状晶体未知点阵的新思路,详细介绍了从EBSD谱中的二维面信息到三维空间的重构算法,利用超定方程组,由菊池带宽度及其夹角信息,求出三维倒易初基胞的晶胞参数。结果表明,用单张EBSD花样完全可以解析未知晶体的Bravais点阵类型及晶胞参数。