频域法测量相位噪声的理论依据

相位噪声测量常用频谱常用频谱仪进行，具体做法类似于谐波抑制比或载噪比的测量，相位噪声的时域定义是输出电压Uo（t）的相位起伏θn（t），频域表达式可以通过求取射频噪声电压Vo（t）θn（t）Sin（ω。t）的功率谱密度进而求得。通过对相位噪声功率谱密度表达式的讨论，得出的结论是：相位噪声的频域表达式SVn（ω）／（V。／2）就是频域法测量相位噪声的理论依据。     

空间辐射效应对SRAM型FPGA的影响

以Xilinx的FPGA为例，结合相关试验数据，分析了空间总剂量效应、单粒子翻转、单粒子闩锁、单粒子功能中断、单粒子烧毁、单粒子瞬态脉冲和位移损伤等辐射效应对SRAMFPGA器件的漏极电流、阚值电压、逻辑功能等影响。分析了辐射效应的机理以及FPGA的失效模式。文章可以为SRAM型FPGA在航天领域中的应用提供参考。