3m法半电波暗室改造施工案例

介绍了北京交通大学3m法半电波暗室改造施工过程中遇到的问题、解决方案以及在暗室施工中应注意的各种事项.     

影响电波暗室场地电压驻波比测试的因素分析

介绍场地电压驻波比互易法测试系统的搭建及场地布置,并结合详细的实测数据着重讨论影响场地电压驻波比测试结果的因素和测试中可能会出现的问题,如墙面的反射、电缆的放置和构成天线架的材料等。据此提出了相应的解决措施。     

正确解读CISPR16-4-2:2014的不确定度报告

基于国际不确定度标准发展,指出了CISPR 16-4-2:2014与现行国际测量不确定度指导性文件JCGM100:2008和JCGM 200:2012在不确定度上的矛盾之处。以CISPR 16-4-2:2014附录B中表B.1的输入量为例,分析并修改了表B.1中关于不确定度的问题,并对修改内容逐条说明。该修改思路对CISPR 16-4-2:2014中其他不确定度报告同样适用。     

准确测量EMC用双锥天线的天线系数

阐述了用自由空间天线系数对于产品辐射骚扰测试的原因,介绍了测量自由空间天线系数的几种方法,包括即将于2012年发布的CISPR 16-1-6 CD2中双锥天线的天线系数的最新测量方法,以及目前应用比较广泛的ANSI C 63.5：2006中的方法。结合一系列实测数据总结了如何提高测量准确性的一些实用措施,如电缆的选用、衰减器的作用、测量仪器以及背景噪声抑制措施等。     

采用改进的标准场地法测量LPDA

采用改进的标准场地法针对LPDA和复合天线分别进行了测试和比较分析.分析了采用ANSI C63.5:2006测量对数周期天线LPDA和复合天线的自由空间天线系数Fa时,由相位中心引起的误差;对CISPR 16-1-6 (CDV)中的计算公式进行了改进,使得即使配对中的天线结构不相同也可以进行比较准确的测量;然后分别针对LPDA和复合天线进行了试验,并与使用CISPR 16-1-6(CDV)中垂直方法的测量结果进行了比较.结果表明:在200 MHz ～2 GHz范围内大部分频段小于0.6 dB,首末频点差别小于0.9 dB.为了便于工程应用,还提供了背景噪声的抑制措施、电缆的选用原则等.     

基于复合左右手传输线的双频带通滤波器设计

根据复合左右手传输线(CRLH TLs)在实现双频微波器件领域的独特优势,设计实现了一个微带结构双频带通滤波器(BPF)。通过设计CRLH TLs的参数,可以任意选取双频滤波器两个通带的中心频率。文中给出了一个中心频率为1.47GHz和2.3GHz的双频带通滤波器设计实例,并通过仿真和实验结果验证设计方法的有效性。利用CRLH TLs设计双频器件,可以在实现双频工作同时保持结构的紧凑性,具有很好的工程应用价值。     

CISPR 22:2008中1 GHz以上辐射骚扰测试的场地要求

从计量角度阐述电磁兼容辐射骚扰测试标准的可比对性和经济性,依照可比对性原则,分析CISPR22：2008关于1GHz频段以上辐射骚扰测试对于场地布置中存在的受试设备离地高度、地面所铺设的吸波材料的高度,以及辐射发射限值适用条件等一些有争议的问题,认为只要场地满足了S-VSWR的测试要求,则地面铺设的吸波材料的高度等并不需要做出统一规定;相比之下,更重要的是要确保接收天线的主瓣能够覆盖EUT,并且详细记录测试现场条件。     

CISPR/A

1 CISPR/A一年来发布的新标准 分会主席Stecher先生通报了一年来IEC发布的由A分会制定的CISPR 16基础系列标准(含FDIS). (1) 2014年6月发布CISPR 16-1-1 Amd2 Ed.3.0(FDIS),主要修改内容为新增规范性附录J“接收机外接前置放大器的要求”.     

电波暗室用吸波材料的性能优化和选用

论述了电波暗室用吸波材料的性能,电波暗室大小对吸波材料性能的影响以及选用标准.着重阐述了吸波材料的全波分析优化方法,并用于研究聚氨酯角锥吸波材料的不同含碳量、钝口、空心、不同结构以及混合吸波材料等对反射率性能的影响.     

近距离观察电磁兼容暗室的场均匀性——电磁兼容暗室的有限元分析

采用有限元法(FEM)对电磁兼容暗室的测试面场均匀性(FU)进行了三维仿真分析,目的是比较地面铺设不同吸波材料(仅限于聚氨酯角锥和铁氧体瓦)以及四周墙面安装的吸波材料距离地面20 cm(即与地面相接的四周金属墙面有20 cm裸露在外)时FU的变化情况。计算结果表明:在其他条件相同情况下,仅改进地板铺设的吸波材料性能,可以显著改善FU;而四周墙面铺设的吸波材料离地面有20 cm时,FU将变差。此外,还提供了测试面中的电场三维分布图,使测试面的FU可视化;根据FU分布图分析了FU在较低频和较高频时的不同变化情况。对暗室的三维仿真分析,使得在实际建造暗室之前,就能对暗室的场均匀性有比较准确和具体的了解,从而可以及时发现和解决问题。