排序方式: 共有11条查询结果,搜索用时 515 毫秒
1.
Al-Cu-Fe系初生准晶相凝固过程的电子显微分析 总被引:3,自引:0,他引:3
采用包括金相(OM),粉末X射线衍射(XRD),扫描电子显微镜(SEM)观察和透射电子显微(TEM)分析等方法,研究了铸态Al592.Cu36.8Fe3.0Si1.0合金(700℃保温2.5h后水淬)的显微组织及相组成。发现铸锭中存在4种相:准晶I相,τ3相(或φ相),θ-Al2Cu相和η-AlCu相,凝固过程可描述为:初生晶是准晶Ⅰ相;在保温过程中发生包晶或共晶反应(L+i→τ3(或φ)或L→τ3(或φ)+i)形成的τ3相(或φ相),呈微畴结构;而剩余液体水淬形成θ-Al2Cu相和η-AlCu 相。 相似文献
2.
Zr(Y)O2衬底上大面积YBCO薄膜表面组织状态的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
使用配备有EDS和ECP附件的SEM、AEM、和STM研究在750和800℃的Zr(Y)O2衬底上磁控溅射沉积的大面积YBCO超导薄膜的表面组织。YBCO薄膜为c轴取向单晶,但衬底温度为800℃时,膜表面的突出组织多为CuO颗粒,小坑较多,表面粗糙;衬底温度为750℃时,突出组织多为棒状和多边形123结构,很少小坑,表面较平整。 相似文献
3.
微量稀土元素添加剂对YT14硬质合金粒度的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
利用能谱仪的图像处理程序研究和微量混合稀土元素添加剂对YT14硬质合金粒度的影响。结果表明:添加不影响硬质相WC和粘结相Co的粒度,但可以抑制YT类硬质合金C固溶体晶粒长大,细化晶粒,使晶粒大小均匀。 相似文献
4.
5.
北京有色金属研究总院近几年在国家科委支持下对本院的JSM-840扫描电镜进行接收系统和数据处理系统的技术改造。自行研制和装配了电子背散射衍射装置及编写了自动识别和标定菊池花样程序。实现了扫描电镜电子背散射衍射图像接收、数字处理和全自动的标定电子背散射衍射花样。 相似文献
6.
7.
8.
EFFECTS OF THE QUALITY OF SUBSTRATE ON THE STRUCTURE AND SUPERCONDUCTING PROPERTIES OF Yba2Cu3O7-x THIN FILM 下载免费PDF全文
We have systematically investigated the structures, morphologies, microwave surface resistance, DC performances and the substrate qualities of three YBa2Cu3O7-x(YBCO) thin films 30mm in diameter. The three samples deposited by the same process have been proved of different properties. It has been shown that the structure and superconducting properties of the thin film depend strongly on the quality of substrate. 相似文献
9.
稀土元素对YG8硬质合金晶粒度的影响 总被引:2,自引:0,他引:2
在硬质合金中添加稀土可以改变其合金的强度、硬度和高温抗氧化性及耐磨性。本文采用JSM-840扫描电镜及TN-5500能谱仪研究了YG8和YG8RE硬质合金的晶粒度,并探讨了微量稀土对YG8合金的影响。1 实验方法 实验选用我院制备的YG8及YG8RE硬质合金(稀土含量<1%),经研磨抛光制备成金 相似文献
10.
EFFECTS OF THE QUALITY OF SUBSTRATE ON THE STRUCTURE AND SUPERCONDUCTING PROPERTIES OF Yba2Cu3O7-x THIN FILM 下载免费PDF全文
We have systematically investigated the structures, morphologies, microwave surface resistance, DC performances and the substrate qualities of three YBa2Cu3O7-x(YBCO) thin films 30mm in diameter. The three samples deposited by the same process have been proved of different properties. It has been shown that the structure and superconducting properties of the thin film depend strongly on the quality of substrate. 相似文献