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唐丽  刘相伟  唐昱  邹映涛 《电子测试》2021,(1):87-90,99
随着芯片集成度的增加及芯片管脚的增多,芯片封装及测试系统的复杂性也随之提升,传统单一的通断检测已经不能快速定位芯片封装键合和测试系统连接性等故障.为解决上述问题,基于通用的V93000 ATE测试平台,研究和实现了一种ATE连通性系统检测法,该方法包括了三个步骤:PPMU参数测试、Walking Z功能测试和Power...  相似文献   
3.
唐丽  邹映涛  唐昱 《电子测试》2016,(18):33-35
VCD仿真文件转为ATE测试文件,是ATE测试过程中的重要环节。本文介绍了VCD到93000 ATE测试文件的转换分析,文中采用主流转换方法,由VCD转为STIL,再由STIL转为ATE测试文件,对转换过程各重要环节进行深入分析,帮助ATE测试工程师对转换的理解,使转换后的测试文件更能满足93000 ATE测试要求。  相似文献   
4.
本文利用智能手机内置传感器与Phyphox软件,探究了简谐振动的周期公式和耦合双自由度振动的规律,测量了多自由度振动系统(人行天桥)的固有频率.实验结果表明,用手机和Phyphox得出的简谐振动周期公式与理论公式非常接近.对双自由度系统,验证了简正模思想在分析耦合振动系统是可行的.对于桥梁这样复杂的多自由度振动系统,运用手机就可以很方便地测量其固有频率.  相似文献   
5.
针对SoC芯片ATE性能测试进行了研究,分析芯片性能测试的关键参数和典型测试类型(内部模块性能测试和接口数据流性能测试)。基于这两种测试类型,以“Date Rate”性能测试为例,分别进行了测试方法的实现。内部模块性能测试的实现,通过指示信号输出性能测试开始和结束波形,采用逆向思维通过“ERCT”获取代表性能运行时间的“Fail Cycle”数,然后对性能时间进行计算来获得性能测试值。接口数据流性能测试的实现,主要通过“Digital Capture”捕获接口数据,然后对接口数据进行处理和计算来获得性能测试值。上述性能测试方法及原理,在ATE测试应用中具有通用性,对于相同或相似的基于时间参数的芯片性能测试具有参考作用。  相似文献   
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