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高可靠性长寿命碲镉汞焦平面阵列像元性能参数慢慢变差退化失效,确定它的储存寿命要用B类试验缩短试验时间。有效加速寿命试验ALT或加速退化试验ADT的恒定热应力,应大于高温+90℃、2 160 h。定量加速试验前,应进行高加速应力筛选试验HASS迫使缺陷发展,以暴露可能存在的早期故障。根据碲镉汞红外焦平面探测器杜瓦组件高温储存试验性能退化测试数据,用统计模型对在恒定高温应力水平下获得的失效时间或退化特征性能参数进行转换,得到在+25℃额定应力水平下的储存寿命大于50年。超过3 000 h高温储存试验结果表明,残余工艺应力释放导致试验前1 500 h像元性能有向好的趋势,在高温+80℃的真空环境下烘烤20天不会造成明显的像元性能恶化。 相似文献
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多余物引起航天、航空产品发生故障的案例有很多。红外探测器多余物的动态位移,会导致瞬时闪现的圆形影像故障,干扰红外弱小目标检测识别与跟踪;或者碰撞焦平面阵列产生无效像元,影响热成像系统的最小可分辨温差和作用距离。通过分步拆卸查找故障器件内的可排除宏观微粒,运用扫描电镜检测识别多余物,梳理制造过程和使用过程中出现多余物的来源和产生过程,提出必须从生产源头预防和控制多余物的途径和方法。力学和光学分析计算表明,宏观微粒破坏成像光束在焦平面上的光强分布,它位移掠过视场的时间小于50 ms,线度小于1 mm衍射现象显著,圆形影像大多发生在夫琅禾费衍射区域,线度10 μm大小的多余物靠近焦平面阵列产生菲涅耳衍射斑。 相似文献
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