C70单晶的生长形貌和结构表征

用气相控制成核密度法 ,生长出了尺寸可达 5mm的C₇₀单晶 .X射线衍射分析及电子衍射分析结果表明C₇₀单晶在室温下为六方密堆积结构 (hcp)相与少量面心立方结构 (fcc)相共存 .用扫描电子显微镜和光学显微镜观察了C₇₀单晶的生长形貌 ,分析了形成机制 ,探讨了生长条件对C₇₀ 单晶生长形态的影响     

Cs3Cu2I5晶体薄膜吸收谱的研究

本文测定了Ｃｓ３Ｃｕ２ Ｉ５ 晶体薄膜在室温及液氮温度下的吸收谱,并依此计算出该材料的激子参数,即激子束缚能ΔＥ（１）ｅｘ ＝ （０．５３±０．０７）ｅＶ,激子半径ａｅｘ ＝ ０．３２６ ｎｍ ,禁带宽度Ｅｇ ＝ （５．００±０．０７）ｅＶ。在谱分析的基础上,论证了Ｃｓ３Ｃｕ２Ｉ５ 的电子和激子激发定域在该晶体的ＣｕＩ亚晶格之中,同时,揭示了在低温下Ｃｓｘ Ｃｕ１－ ｘ Ｉ系列化合物的第一激子峰位置随其摩尔组分变化的规律。     

外腔半导体激光器单频输出的长期稳定

一、引言 由于光纤通讯、光纤传感、检测二光谱分析、频标、光陀螺等领域的需要；单频半导体激光器的研究近年来受到广泛重视并得到迅速发展，由于采用了长外腔选模技术，已实现了线宽小于100 kHz的单频输出~[1-3]。而频率长期稳定工作则刚刚开始~[4]。通常认为，造成半导体激光器输出频率漂移及跳模的原因是管芯温度和注入电流的波动，因此稳频工作     

YBCO薄膜的PHREM研究

ＹＢＣＯ薄膜截面样品的高分辨电子显微镜（ＸＨＲＥＭ）研究已有报导［１，２］。它能给出薄膜与衬底之间的界面结构，薄膜的取向和缺陷等结构特征，为制备高质量的薄膜提供依据。与之相比，ＹＢＣＯ平面样品的高分辨电子显微镜（ＰＨＲＥＭ）研究则能给出较大区域的薄膜...     

基于光纤布里渊传感的钢绞线全尺度应力监测

针对钢绞线服役过程中因弯角、摩擦、滑移等原因导致的应力分布式变化及传统传感器不能有效解决分布式测试和工程布设的难题,提出将纤维增强树脂-光纤复合智能筋与钢绞线复合,利用光纤布里渊传感实现钢绞线应力的全尺度监测技术,并通过钢绞线的张拉试验验证了该技术的有效性.试验结果表明,智能筋中的光纤布里渊测试平均应变与引伸计结果吻合较好,反算荷载与控制张拉力吻合亦良好,其误差在5%左右,说明监测信息能很好地揭示钢绞线的应力分布状态.该技术具有抗电磁干扰,耐久性好,长距离全尺度测量,实施方便,成本低等优点,适于钢绞线结构的从施工到服役的全过程长期监测.     

准分子激光对高分子薄膜的刻蚀

对PET材料在紫外激光作用下被刻蚀的过程进行了研究,并对其中的机理及影响刻蚀的因素做了讨论。     

取样窗口迹长均值估计方法的讨论

采用窗口取样法测量岩体中随机不连续面的迹长, 相对于无限二维空间的岩体而言存在着不可避免的偏差。因此, 在实际岩体工程中要对实地测量迹长的偏差进行校正, 以获得校正后的平均迹长。本文着重讨论了Kulatilake教授于 1984年提出的不连续面迹长均值估算法, 并对算法作了必要的修正, 使算法更客观, 更完善, 编制的计算机代码可以很方便地求取无限二维岩体不连续面的校正迹长。