Sn-8Zn无铅钎料性能的研究

研究了不同微量合金元素(Bi、Ag)对Sn-8Zn无铅钎料高温抗氧化性能及接头剪切强度的影响,采用氧化质量增加△m值的方法,在高温下观察钎料表面氧化膜形状和颜色的变化并对氧化膜进行X射线衍射分析,探讨了钎料的高温抗氧化性能的机理,通过对钎料的金相显微组织观察和对热处理后钎焊接头的剪切强度试验,分析了提高接头剪切强度的原因.试验结果表明:在Sn-8Zn钎料中加入适量的合金元素(Bi、Ag)均可以改善和提高钎料的高温抗氧化性能和接头的剪切强度.     

SSOP-20L塑封浇口参数对金线偏移的影响

研究了IC塑封浇注系统对金线偏移的影响,通过数值模拟对金线偏移现象进行理论分析与预测,以金线偏移量最小为标准,对浇口参数进行优化。在模拟优化的基础上设计制造了不同浇口参数的模具镶件,对模拟结果进行实际验证。实验中采用X射线检测技术,提出了一种新的对金线偏移程度观测的方法。结果表明:型腔压力随浇口厚度H的增加而变小,入射角α的变化对压力的影响相对较小;厚度为0.25 mm,入射角为50°的浇口尺寸为最优;浇口厚度为0.25 mm,入射角为50°时的金线实际偏移量平均值为0.049 mm,金线偏移程度最小;浇口厚度为0.25 mm,入射角为30°时,金线实际偏移平均值为0.072 mm,金线偏移程度最大。     

层叠微芯片封装翘曲行为优化分析

本文以某汽车用芯片为研究对象,研究芯片封装过程结构翘曲优化问题。首先采用Taguchi正交实验设计,结合M oldflow 2016微芯片封装模拟软件,分析各因素对芯片封装过程结构翘曲影响程度及影响规律。选择对芯片翘曲影响较大的因素为响应试验因素,芯片翘曲值为响应目标,进行Box-Behnken试验设计,建立响应面试验因素与目标的数学模型。利用Box-Behnken试验设计构建的数学模型,定义遗传算法优化适应度函数,基于Matlab 2016软件遗传算法工具箱(GUI),通过迭代寻优,获得芯片封装结构翘曲的最小值及最小值时的参数组合。按照芯片翘曲最小值,对芯片原始模型进行反变形补偿,通过实际生产验证,该优化方法具有较高的精度。