35Cr25Ni12奥氏体耐热钢中碳化物的电子显微分析

应用扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）研究了长期使用前后的35Cr25Ni12奥氏体耐热钢中的碳化物演变行为；该钢固溶时效后的组织由初晶奥氏体及M23C6共晶碳化物组成，奥氏体基体中析出了二次M23C6，二次碳化物总是与基体保持立方－立方取向关系；长期使用（3、5年）后，奥氏体中析出的二次碳化物量明显增加，部分M23C6已转变为M6C，M6C与奥氏体基体以及二次碳化物M23C6保持[001]M6C//[221]A//[221]M23C6孪晶取向关系。     

探讨用SEM-EDS分析材料的碳含量

扫描电镜同能谱仪联用，为材料的元素分析提供了方便。对原子序数高的元素分析，可以做到定性和半定量分析；对轻元素分析，如碳，多数为定性分析。其原因为：其一，碳为轻元素，特征X射线能量低，信号被探测器收集过程中，损失大；其二，计算中使用不同方法扣除碳元素背底，对计算结果会有不同的影响。     

二次电子像质量

扫描电镜(SEM)中，一幅高质量的图像应该满足三个条件：一是分辨率好，显微结构清晰可辨；二是衬度适中，图像中无论是黑区还是白区的细节都能看清楚；三是信噪比好，没有明显的雪花状噪声。其中分辨率是最重要的指标。多年来为提高分辨率进行了不懈的努力，今天已达到0．6nm。     

扫描电镜低电压条件下的应用

场发射扫描电镜的低电压操作性能优越，广泛地应用于材料研究中。利用常规加速电压，如20kV观测样品，二次电子来自样品表面5～l0nm范围，最表层的形貌被削弱，甚至掩盖了；而用低加速电压观测样品时，由于入射电子束的能量低，与样品表面的相互作用区小，信号多来源于材料的表面，电压越低，观测的形貌效果越接近表层。