基于AT89S52单片机的简易数字示波器设计

介绍一种双通道简易数字示波器的设计方案,以AT89S52单片机作为控制核心,输入信号在经过预处理电路处理后,通过高速A／D转换器ADC0809,实现信号的实时采样、数据处理、存储并在液晶上显示,并用键盘做功能设置。该设计创新地实现了波形的存储／回放、双通道信号实时对比分析、程控放大提高灵敏度等方面。测试结果表明该系统稳定,具有测量频率高、波形清晰、可靠性高、成本低等特点,有很高的实用价值。     

Correlation Between the IR Transmission Spectra and the CdZnTe Qualities

Tens of Cd0.9Zn0.1Te wafers from three ingots grown by the vertical Bridgman method (VBM) are characterized by infrared (IR) transmission. Four types of distinct IR transmission spectra are found for these wafers. Each of them corresponds to one kind of wafers with specified quaJities. At the same time, approximate mathematical relations exist between the wafer dislocation density and their IR transmissions at the wavenumber 4000cm^-1, as well as between the resistivity and the IR transmissions at the wavenumber 500cm^-1. The reasons of the above results are attempted to be given.     

CdZnTe晶片的红外透过率研究

测试了多个性能各异的Cd0.9Zn0.1Te晶片的红外透过率。研究表明,红外透过率与晶片的性能有着密切的联系,即红外透过率的大小及红外透过率图谱的形状可反映晶片的成分分布、位错密度以及杂质含量的情况。从晶片对红外光的吸收机理出发,对这些联系进行了详细的分析。     

CdZnTe晶片的性能测试

测试了多个Cd0.9Zn0.1Te晶片的性能,包括红外透过率、成分分布、位错密度、Te沉淀/夹杂密度以及电阻率.研究表明,红外透过率与性能有着密切的联系:红外透过率的大小及红外透过率图谱的形状可反映晶片的成分分布、位错密度以及电阻率的情况.从晶片对红外光的吸收机理出发,对这些联系进行了详细的分析.     

根据红外透过率推断CdZnTe晶片的性能

采用傅里叶变换红外光谱仪测试了性能各异的多个CdZnTe晶片的红外透过率．研究表明，红外透过率的大小可以定性反映CdZnTe晶片的性能：红外透过率越高的晶片，其成分偏离越小，位错密度越低，电阻率越高．根据红外透过率大小随着波数的变化，红外透过率图谱可以分为4种，每一种图谱对应着具有不同性能的CdZnTe晶片，从晶片对红外光的吸收机理出发，对实验结果进行了初步分析。