低温陶瓷共烧技术——MCM-C发展新趋势

介绍了目前国际上厚膜混合工艺技术的动态，指出了低温共烧陶瓷技术(LTCC)是MCM-C发展的重要趋势。探讨了国内MCM-C技术的现状，认为必须同IC技术保持紧密的联系，才能得到良好的发展。     

有机粘结剂在高可靠微电路中的应用研究

介绍了有机粘结刑在高可靠微电路中的应用。从粘结剂的作用机理、胶粘剂选择及工艺试验进行分析，通过对比试验，确定了满足常规高可靠要求的较为理想的有机粘结剂。论述了此种有机粘结剂的操作要领及控制方法。     

厚膜导带上的粗丝键合

文章给出了混合集成电路厚膜导带膜厚、键合丝直径、以及加热老化的一系列数据，讨论了选用金合金浆料或银合金浆料所形成的金属化导带在可靠性提高方面的不同情况，论述了热老化对键合强度的影响以及键合丝的电气集成性能，并对大电流流经一组键合丝所形成的加热效应进行了测量。探讨了键合点接触电阻和键合强度衰减问题的动力学成因及产生机理。     

二十四所混合集成电路技术发展历程与展望

回顾了二十四所混合集成电路专业方向的发展历程.按不同历史阶段,介绍了二十四所混合集成电路二十余年的技术进步轨迹和所取得的主要成就;最后,对二十四所混合集成电路未来的发展前景进行了展望.     

金丝球焊的工艺质量统计控制

金丝球焊键合工艺作为主要的内部引线互连工艺技术，广泛应用于单片集成电路（IC）及厚薄膜混合集成电路（HIC）中。在批量生产中，其键合质量直接影响产品的可靠性，文章探讨了在批量生产中如何使用质量统计控制方法对金丝球焊键合工艺进行及时有效的调整控制，使其在批量生产中的质量一致性满足产品质量可靠性要求，提高产能和效率。     

混合集成电路常见装配结构热阻分析

从常规电子产品热设计基础理论的理解分析入手,结合实际应用,阐述了混合集成电路典型装配结构热阻的简便分析方法;绘制了多种典型结构的内热阻与发热芯片面积的关系曲线和外热阻与封装表面积的关系曲线;提出了通过典型结构热阻曲线分析产品芯片结温的方法,及相应问题的处理办法;对一般混合集成电路的非精确热设计有一定的参考意义。