经济实用的DSP电源解决方案

笔者介绍了两种低纹波的DSP电源解决方案:一为采用MAX1793和大电流EMI静噪滤波器NFM41P;二为改进的去耦p型滤波电路和大电流EMI静噪滤波器NFM41P。并对方案的特点及其实现进行了详细的解析。试验结果表明:所述方案的纹波小,仅100 mV左右;成本低,仅几十元;适用范围广,通过改变MAX1793芯片的输出电压,可将本方案移植到TI的C5000,C6000系列,且还可用于其他的脱机工作系统。     

分段线性电路切换系统的复杂行为及非光滑分岔机理

分析了分段线性电路系统在周期切换下的复杂动力学行为及其产生的机理. 基于平衡点分析, 给出了两子系统Fold分岔和Hopf分岔条件. 考虑了在不同稳定态时两子系统周期切换的分岔特性, 产生了不同的周期振荡, 并揭示了其产生的机理. 在不同的周期振荡中, 切换点的数量随参数变化产生倍化, 导致切换系统由倍周期分岔进入混沌. 关键词： 分段线性电路 切换系统 非光滑分岔     

机器人控制系统关键模块的形式化验证

随着机器人应用在越来越多的领域,人们对其安全性的要求越来越高,作为机器人的核心,控制系统设计的可靠性对整个系统的安全至关重要;针对一种模块化设计的机器人控制系统架构,利用xMAS(eXecutable MicroArchitecture Specification,可执行微架构描述)模型在定理证明器ACL2中对其功能正确性进行验证,首先对Xmas在ACL2中的形式化理论做了阐述,然后对该机器人控制系统中的加速度传感器数据采集模块建立xMAS模型,提取关键属性并进行验证;将xMAS模型和定理证明器ACL2相结合,可以很好地解决机器人控制系统的验证问题,为机器人控制系统的形式化验证提供一个有效的方法参考。     

低噪音视频图象采集系统电源设计

视频图象采集系统的电源设计十分重要,如果电源电压的纹波稍大,将严重影响视频A／D芯片的正常工作,分离出的行同步信号也会发生跳变,这些都将使A／D芯片的精度下降,造成图象包含雪花、水印干扰,图象模糊不清。为解决这个问题,介绍一种低噪音的电源方案。实际使用表明：采用新的电源方案使整个系统的稳定性明显提高,且可推广到其它数据采集系统。     

超级电容建模现状及展望

介绍了超级电容的特点和工作原理,从物理结构,电气特性以及阻抗特性三个方面对现有的超级电容应用模型予以概述,给出了各类模型的建模依据;分析了各类模型的特点及其优缺点;阐述了各类模型的适用范围。最后,结合超级电容在实际应用中出现的问题,展望了未来超级电容建模的发展趋势。     

DSP极低码率的远程视频监控系统

笔者以TI的低成本DSP芯片F206为例,介绍了一种基于此芯片的极低码率双绞线视频图像监控系统,包括它的整体方案,及实现时的一些难点解析。实践表明:此系统经济、实用且具有广播能力。     

基于红外探测技术的嵌入式智能监测平台研究

在实际照度较低的环境中，可见光波段的CCD摄像机获取的图象模糊不清，影响监测精度。而采用散射光小，穿透能力强的红外CCD，则可以显著改善图象质量，从理论上分析了Rayleigh散射，Mie散射，无选择散射对监测的影响，讨论了红外波段CCD的反射系数、透射系数与波长的关系。实验表明：监测采用红外波段可显著提高空间分辨率、穿透性，且能有效抑制光线散射造成的影响。     

超级电容建模现状及展望

介绍了超级电容的特点和工作原理,从物理结构,电气特性以及阻抗特性三个方面对现有的超级电容应用模型予以概述,给出了各类模型的建模依据;分析了各类模型的特点及其优缺点;阐述了各类模型的适用范围.最后,结合超级电容在实际应用中出现的问题,展望了未来超级电容建模的发展趋势.     

专线MODEM在远程通信系统中的应用

目前远程视频监控系统已经成为计算机监控系统的重要分支。国内外现有的远程监控系统大多基于光纤．而光纤如果遇到机械冲击、碰撞等都会造成光缆断缆或断芯．光缆断裂后,很难快速修复,且修复设备复杂．普通用户根本无法进行焊接修复．再加上光端机价格较高．这些都限制了光纤远程监控系统的应用和普及。为此,人们找到了价格相对便宜、维护十分简单的极低比特率双绞线解决方案。文中以基于MODEM专线方式的远程视频监控系统为例,介绍经济、实用且具有广播能力的远程网络摄像机系统。     

CCD固体成像器件性能测试方法的研究

CCD图像传感器是目前科学成像领域主流的固体成像器件。一般而言, 当成像系统中使用CCD器件时, 首先需要测量它的一些性能指标, 这是判断该CCD器件是否满足整个系统性能要求的重要依据。对CCD成像器件性能的测试方法进行了探讨, 涉及的参数包括增益、噪声、电荷转移效率、线性和满阱电荷等。研究重点是如何应用扩展像素边界反应方法及同位素X射线方法检测CCD的电荷转移效率, 以及利用X射线方法测量器件的增益。最后以理论研究为基础, 发展并提出了一套切实可行的CCD器件检测方法, 同时基于E2V公司4K×4K芯片CCD203_82进行了性能测试实验, 实验结果也验证了本文提出的测试方法的可行性和可靠性。