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S校正电容器损耗测试频率分析 总被引：1，自引：1，他引：0
通过试验和分析说明彩电用Ｓ校正电容器ｔｇδ的测试频率为１ｋＨｚ是不合适的，应选用更高一些的频率。当选用１０ｋＨｚ测试，ｔｇδ控制在４０×１０－４以下比较合适。 相似文献
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按ＧＢ／Ｔ１４４７２－９３（ｉｄｔＩＥＣ３８４－１４（１９９３））分规范及其详细规范研制的ＣＬ６２型（Ｘ２类）聚酯膜电容器，适用于抑制电磁干扰。研制过程中围绕高电压瞬态脉冲试验、耐久性试验、阻燃性试验等三个技术难点进行攻关，产品通过了安全认证。 相似文献
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